Steinmeyer Portal-Positioniersysteme

Wiederholbarkeit: 1 µm
Ladung: 15 kg
Hub: 200 mm - 1.000 mm

XYZ Gantry für hochdynamische Anwendungen Kundenspezifisch anpassbar • Ideal für hochpräzise und dynamische Anwendungen • Sehr großer Verfahrbereich von 1300 x 800 x 200 mm • Hohe Beschleunigungen und Geschwindigkeiten kombiniert ...

Wiederholbarkeit: 0,3 µm - 2,5 µm
Ladung: 5 kg - 20 kg
Hub: 100 mm - 720 mm

XYZ-Doppel-Inspektionsportal für Halbleiter Kundenspezifisch anpassbar • Ideal zur automatisierten Inspektion von Wafern / Halbleitern • Sehr großer Verfahrbereich von 2 x je 720 x 720 x 100 mm • Erlaubt die Integration von zwei ...

Wiederholbarkeit: 0,005 µm - 4,4 µm
Ladung: 5 kg - 25 kg
Hub: 100 mm - 365 mm

8-Achs-Positioniersystem / Goniometer Kundenspezifisch anpassbar • Automatisierte 8-Achs-Inspektion aus verschiedenen Winkeln • Koaxiales Drehsystem, welches die Kameras / Sensoren / Beleuchtung um einen gemeinsamen ...

Wiederholbarkeit: 0,3 µm - 0,5 µm
Geschwindigkeit: 1.210 mm/s - 1.630 mm/s

... Bearbeitung hoher Lasten bis 3100 N • Enorm hohe Beschleunigungen bis zu 5G bei über 120 m/min Dieses luftgelagerte XY Positioniersystem wurde für die Laserbearbeitung von großen und schweren Paneelen entwickelt. ...

Wiederholbarkeit: 0,01 µm - 2,5 µm
Geschwindigkeit: 5 mm/s - 35 mm/s

... hohe Wiederholbarkeit der Ergebnisse mit bis zu 2.5 µm und feinste rotatorische Bewegungen bis 0.02° Dieses 9-achs-Positioniersystem ermöglicht es, Proben aus allen möglichen Winkeln unter Mikroskopen oder hochauflösenden ...

Wiederholbarkeit: 0,3 µm - 2,5 µm
Geschwindigkeit: 150 mm/s - 1.500 mm/s

... Inspektionssystem (hier ohne Abdeckung gezeigt) ist speziell für die automatisierte Qualitätskontrolle entwickelt. Das Positioniersystem erlaubt die Positionierung entlang zweier linearer Achsen. Eine hochauflösende Kamera ...

Wiederholbarkeit: 0,3 µm - 2,5 µm
Geschwindigkeit: 150 mm/s - 750 mm/s

Kundenspezifisch anpassbar: • Ideal zur automatisierten Inspektion von Wafern, Probecards und Leiterplatten • Inspektion mehrerer Objekte gleichzeitig durch Verfahrwege bis 720 mm • Ideal für die Integration von zwei Prozessen gleichzeitig • ...

Wiederholbarkeit: 3,9 µm - 4,4 µm
Geschwindigkeit: 5 mm/s

... Inspektionssystem ist speziell für die automatisierte Qualitätskontrolle großer und flacher Proben bis 50 kg entwickelt. Das Positioniersystem erlaubt die gleichzeitige Positionierung von Sensor in Z und Prüfling in XY ...

Wiederholbarkeit: 0,001 µm - 4,4 µm
Hub: 1,5 mm - 100 mm
Geschwindigkeit: 0,4 mm/s - 1.400 mm/s

... 0.5 µm • Apertur von 45 mm für den Strahlengang • Luftgelagerter Drehtisch für Genauigkeiten bis 0.0005° Dieses Positioniersystem erlaubt eine Tangential-Abtastung in 6 Freiheitsgraden mit einer sehr hohen Wiederholbarkeit. ...

Wiederholbarkeit: 1,9 µm - 4,4 µm
Ladung: 50 kg
Hub: 100 mm - 1.000 mm

XXL XYZ-Portal mit Vakuum Chuck Kundenspezifisch anpassbar: • Ideal zur automatisierten Oberflächeninspektion mit Fokusvariation • Ausgelegt für Probengewichte bis 50 kg (exklusive Vakuumtisch) • Passive Schwingungsdämpfung ...