Steinmeyer Optikanwendungen-Positioniersysteme

Wiederholbarkeit: 1 µm
Ladung: 15 kg
Hub: 200 mm - 1.000 mm

XYZ Gantry für hochdynamische Anwendungen Kundenspezifisch anpassbar • Ideal für hochpräzise und dynamische Anwendungen • Sehr großer Verfahrbereich von 1300 x 800 x 200 mm • Hohe Beschleunigungen und Geschwindigkeiten kombiniert ...

Wiederholbarkeit: 0,3 µm - 2,5 µm
Ladung: 5 kg - 20 kg
Hub: 100 mm - 720 mm

XYZ-Doppel-Inspektionsportal für Halbleiter Kundenspezifisch anpassbar • Ideal zur automatisierten Inspektion von Wafern / Halbleitern • Sehr großer Verfahrbereich von 2 x je 720 x 720 x 100 mm • Erlaubt die Integration von zwei ...

Wiederholbarkeit: 0,3 µm - 0,5 µm
Hub: 50 mm - 200 mm
Geschwindigkeit: 30 mm/s

XYZ Positioniersystem für hochpräzise automatische optische Inspektion Kundenspezifisch anpassbar: • Ideal für hochpräzise automatisierte Inspektionsprozesse • Hohe Wiederholgenauigkeit bis 0.3 µm • Reduktion von ...

Wiederholbarkeit: 0,3 µm - 0,4 µm
Hub: 100 mm - 200 mm
Geschwindigkeit: 15 mm/s - 25 mm/s

XYZ Laboranalytik System flexibel konfigurierbar mit Rotation Kundenspezifisch anpassbar: • Ideal für den Auf- und Ausbau Ihrer hochpräzisen Analysetechnik • Extrem hohe Wiederholgenauigkeit bis 0.3 µm • Kleinste Schrittweiten und ...

Wiederholbarkeit: 0,8 µm - 4 µm
Ladung: 1 kg
Hub: 25 mm - 25 mm

MP63-3 Miniatur-XYZ-Positioniersystem, kartesisch Kundenspezifisch anpassbar: • sehr hohe Auflösungswerte • ideal für enge Bauräume • Belastbarkeit bis 10N • feineres Einjustieren bei Applikationen durch einen ...

Wiederholbarkeit: 0,001 µm - 3,5 µm
Ladung: 6,5 kg
Hub: 4 mm - 20 mm

6-Achs Miniatur-XYZ-Theta-Phi-Delta Positioniersystem (Reinraum ISO 5) Kundenspezifisch anpassbar: • Ideal zur automatisierten Inspektion von Wafern und Optiken bis 300 mm / 12" • Hohe Wiederholgenauigkeit von ...