Steinmeyer hochauflösende Positioniersysteme

Wiederholbarkeit: 1 µm
Ladung: 15 kg
Hub: 200 mm - 1.000 mm

XYZ Gantry für hochdynamische Anwendungen Kundenspezifisch anpassbar • Ideal für hochpräzise und dynamische Anwendungen • Sehr großer Verfahrbereich von 1300 x 800 x 200 mm • Hohe Beschleunigungen und Geschwindigkeiten kombiniert ...

Wiederholbarkeit: 0,3 µm - 2,5 µm
Ladung: 5 kg - 20 kg
Hub: 100 mm - 720 mm

... automatisierte Vermessung mehrer Objekte gleichzeitig. Hohe Dynamik und höchste Reproduzierbarkeit werden erreicht. Jeweils eine hochauflösende Kamera bzw. Sensor pro Seite wird relativ zur Probe verfahren um Geometrien ...

Wiederholbarkeit: 0,005 µm - 4,4 µm
Ladung: 5 kg - 25 kg
Hub: 100 mm - 365 mm

8-Achs-Positioniersystem / Goniometer Kundenspezifisch anpassbar • Automatisierte 8-Achs-Inspektion aus verschiedenen Winkeln • Koaxiales Drehsystem, welches die Kameras / Sensoren / Beleuchtung um einen gemeinsamen ...

Wiederholbarkeit: 2 µm
Hub: 65 mm
Geschwindigkeit: 25 mm/s

... Halterung für Sensor und Kreuztisch mit Durchlicht Kundenspezifisch anpassbar: • Ideal für den Auf- und Ausbau von hochauflösenden Analyse-, Scan-, Mikroskopie und Messaufgaben in Laborumgebung • Befestigung für ...

Wiederholbarkeit: 0,3 µm - 0,7 µm
Hub: 200 mm
Geschwindigkeit: 15 mm/s - 25 mm/s

... Probeninspektion • Hochpräzise Wiederholgenauigkeit bis 0.3 µm • Reduktion von Messabweichungen auf unter 3 µm Dieses 3-Achs-Positioniersystem wurde für hochpräzise Messanwendungen entwickelt, bei denen der Kreuztisch ...

Wiederholbarkeit: 0,002 µm - 2,4 µm
Hub: 135 mm
Geschwindigkeit: 10 mm/s - 50 mm/s

X-Phi-System für die Positionierung optischer Linsen, Zylinder z.B. Tastschnittmessgerät Kundenspezifisch anpassbar: • Ideal zur optischen Vermessung von runden Teilen z.B. Wafer, Optiken • Spart die zusätzliche Anschaffung einer ...

Wiederholbarkeit: 0,3 µm - 1,7 µm
Hub: 100 mm - 300 mm
Geschwindigkeit: 25 mm/s

... auf ein Minimum • Einfache Integration und flexible Kombination mit vorhandenen Kamera-Systemen und Sensoren Das Positioniersystem ermöglicht die Positionierung entlang drei linearer Achsen. Bei dieser Einheit ist ...

Wiederholbarkeit: 0,5 µm - 1,5 µm
Hub: 50, 150, 300 mm
Geschwindigkeit: 25 mm/s

XYZ System für Labor- und Waferinspektion Kundenspezifisch anpassbar: • Ideal für den Auf- und Ausbau Ihrer hochpräzisen Messstechnik • Sehr hohe Wiederholgenauigkeit bis 0.5 µm • Kleinste Schrittweiten und höchste Zuverlässigkeit ...

Wiederholbarkeit: 0,4 µm - 2,2 µm
Hub: 100 mm - 300 mm
Geschwindigkeit: 1,12 mm/s - 25 mm/s

XZ System für Labor- und Waferinspektion Kundenspezifisch anpassbar: • Ideal für den Auf- und Ausbau Ihrer hochpräzisen Messstechnik • Sehr hohe Wiederholgenauigkeit bis 0.4 µm • Kleinste Schrittweiten und höchste Zuverlässigkeit ...

Wiederholbarkeit: 0,3 µm - 0,5 µm
Hub: 50 mm
Geschwindigkeit: 30 m/s

XYZ Positioniersystem für Laborinspektion Kundenspezifisch anpassbar: • Ideal für den Auf- und Ausbau Ihrer hochpräzisen Messtechnik • Sehr hohe Wiederholgenauigkeit bis 0.3 µm • Kleinste Schrittweiten und höchste ...