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Nikon Metrology Mikroskope für Halbleiter
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Gewicht: 17 kg
Länge: 490 mm
Breite: 251 mm
... unter Verwendung einer ganzen Reihe von speziellem Zubehör. Ci-POL ermöglicht eine Reihe von Studien mit einem kompakten Mikroskop. Nikon ECLIPSE LV100N POL und Ci-POL Diese Geräte haben eine episkopische und diaskopische ...
Nikon Metrology
Vergrößerung: 50 unit
Gewicht: 45 kg
... Beleuchtungssystem liefert Bilder mit hervorragendem Kontrast und Auflösung. Nikon ECLIPSE L300N(D) und L200N(D) Diese Mikroskope sind für die außergewöhnlich präzise optische Inspektion von Wafern (200 mm für die ...
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Gewicht: 45 kg
... Beleuchtungssystem liefert Bilder mit hervorragendem Kontrast und Auflösung. Nikon ECLIPSE L300N(D) und L200N(D) Diese Mikroskope sind für die außergewöhnlich präzise optische Inspektion von Wafern (200 mm für die ...
Nikon Metrology
Gewicht: 8,7 kg
Länge: 362 mm
Breite: 251 mm
... aufrechten Mikroskopen für verschiedene episkopische optische Kontrastverfahren (BF-DF-DIC-POL-Fluoreszenz-Interferometrie). Zusammen mit dem digitalen Bildverarbeitungszubehör und den großen X-Y-Verfahrwegen sind die ...
Nikon Metrology
Gewicht: 8,6 kg
Länge: 362 mm
Breite: 251 mm
... aufrechten Mikroskopen für verschiedene episkopische optische Kontrastverfahren (BF-DF-DIC-POL-Fluoreszenz-Interferometrie). Zusammen mit dem digitalen Bildverarbeitungszubehör und den großen X-Y-Verfahrwegen sind die ...
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Gewicht: 9,5 kg
Länge: 613 mm
Breite: 251 mm
Die ECLIPSE LV100NDA und LV100ND Serie flexibler, modularer, aufrechter Mikroskope von Nikon ist für episkopische und diaskopische optische Kontrastverfahren konzipiert. Die Geräte können mit digitalem Kamerazubehör geliefert ...
Nikon Metrology
Gewicht: 9,5 kg
Länge: 657 mm
Breite: 251 mm
Die ECLIPSE LV100NDA und LV100ND Serie flexibler, modularer, aufrechter Mikroskope von Nikon ist für episkopische und diaskopische optische Kontrastverfahren konzipiert. Die Geräte können mit digitalem Kamerazubehör geliefert ...
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