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Gewicht: 17 kg
Länge: 490 mm
Breite: 251 mm
Die Polarisationsmikroskope der Serie ECLIPSE LV100N POL und Ci-POL dienen zur Untersuchung der doppelbrechenden Eigenschaften anisotroper Proben durch Beobachtung von Bildkontrast und Farbveränderungen. Nikon bietet Systeme sowohl für ...
Nikon Metrology
Vergrößerung: 50 unit
Gewicht: 45 kg
Nikons ECLIPSE L300ND, L300N und L200ND, L200NA sind Halbleitermikroskope, die sich ideal für die Inspektion von integrierten Schaltkreisen (IC), Flachbildschirmen (FPD), elektronischen Bauteilen mit hoher Integrationsdichte (LSI) und ...
Nikon Metrology
Gewicht: 45 kg
Nikons ECLIPSE L300ND, L300N und L200ND, L200NA sind Halbleitermikroskope, die sich ideal für die Inspektion von integrierten Schaltkreisen (IC), Flachbildschirmen (FPD), elektronischen Bauteilen mit hoher Integrationsdichte (LSI) und ...
Nikon Metrology
Gewicht: 8,7 kg
Länge: 362 mm
Breite: 251 mm
Eine Serie von flexiblen, modularen, aufrechten Mikroskopen für verschiedene episkopische optische Kontrastverfahren (BF-DF-DIC-POL-Fluoreszenz-Interferometrie). Zusammen mit dem digitalen Bildverarbeitungszubehör und den großen X-Y-Verfahrwegen ...
Nikon Metrology
Gewicht: 8,6 kg
Länge: 362 mm
Breite: 251 mm
Eine Serie von flexiblen, modularen, aufrechten Mikroskopen für verschiedene episkopische optische Kontrastverfahren (BF-DF-DIC-POL-Fluoreszenz-Interferometrie). Zusammen mit dem digitalen Bildverarbeitungszubehör und den großen X-Y-Verfahrwegen ...
Nikon Metrology
Gewicht: 9,5 kg
Länge: 613 mm
Breite: 251 mm
Die ECLIPSE LV100NDA und LV100ND Serie flexibler, modularer, aufrechter Mikroskope von Nikon ist für episkopische und diaskopische optische Kontrastverfahren konzipiert. Die Geräte können mit digitalem Kamerazubehör geliefert werden und ...
Nikon Metrology
Gewicht: 9,5 kg
Länge: 657 mm
Breite: 251 mm
Die ECLIPSE LV100NDA und LV100ND Serie flexibler, modularer, aufrechter Mikroskope von Nikon ist für episkopische und diaskopische optische Kontrastverfahren konzipiert. Die Geräte können mit digitalem Kamerazubehör geliefert werden und ...
Nikon Metrology
Vergrößerung: 1 unit - 100 unit
Gewicht: 26 kg
Länge: 295 mm
Das Nikon ECLIPSE MA200 ist ein flexibles, modulares, inverses Mikroskop im innovativen Box-Design für episkopische optische Kontrastverfahren in Verbindung mit Zubehör für die digitale Bildverarbeitung. Es ist ideal für die Inspektion ...
Nikon Metrology
Vergrößerung: 5 unit - 100 unit
Gewicht: 14 kg
Länge: 271 mm
Die Polarisationsmikroskope der Serie ECLIPSE LV100N POL und Ci-POL dienen zur Untersuchung der doppelbrechenden Eigenschaften anisotroper Proben durch Beobachtung von Bildkontrast und Farbveränderungen. Nikon bietet Systeme sowohl für ...
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