Jeol Mikroskope zur Beobachtung
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... gemacht und ermöglicht mittlerweile die atomare Abbildung von Protein-Strukturen. Hierfür steht Wissenschaftlern seit 2017 das Mikroskop CRYO ARM™ 300 mit einer einzigartigen kalten Feldemission (CFEG) und einem sehr ...
Jeol
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... 53 pm erreicht. 2. Kalte Hochleistungs-Feldemissionsquelle mit großer Helligkeit und geringer Energiedispersion Das Mikroskop wird mit einer extrem hellen und stabilen kalten Feldemissionsquelle betrieben. Der lichtstarke ...
Jeol
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Steigende Anforderungen erfordern stetige Weiterentwicklung. Daher wurde basierend auf der erfolgreichen Baureihe der JEOL InTouchScope ™ REMs das JSM-IT710HR entwickelt. Die neue High-brightness-Feldemissions-Elektronenquelle ermöglicht ...
Jeol
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Steigende Anforderungen erfordern stetige Weiterentwicklung. Daher wurde basierend auf der erfolgreichen Baureihe der JEOL InTouchScope ™ REMs das JSM-IT710HR entwickelt. Die neue High-brightness-Feldemissions-Elektronenquelle ermöglicht ...
Jeol
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Das von Grund auf neu designte Präparationssystem JIB-PS500i mit fokussiertem Gallium-Ionenstrahl (FIB) ermöglicht in noch nie dagewesener Einfachheit die Herstellung, höchstauflösende Abbildung und Analyse dünner TEM-Lamellen und Querschnitte. ...
Jeol
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... gemacht und ermöglicht mittlerweile die atomare Abbildung von Protein-Strukturen. Hierfür steht Wissenschaftlern seit 2017 das Mikroskop CRYO ARM™ 300 mit einer einzigartigen kalten Feldemission (CFEG) und einem sehr ...
Jeol
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Räumliche Auflösung: 0,08 nm - 0,23 nm
Das JEOL "NEOARM" / JEM-ARM200F zeichnet sich durch eine kalte Feldemissionsquelle (Cold FEG) und einen Cs-Korrektor (ASCOR), der Aberrationen höherer Ordnungen kompensiert, aus. Diese Kombination aus Cold FEG und ASCOR ermöglicht gleichermaßen ...
Jeol
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Räumliche Auflösung: 0,14 nm - 0,31 nm
... leistungsfähige Elektronenoptik mit einem hochentwickelten Steuerungssystem für eine verbesserte und intuitive Handhabung vereint. Das Mikroskop eignet sich für eine Vielzahl von Anwendungsgebieten in der Werkstoffkunde ...
Jeol
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Vergrößerung: 10 unit - 1.500.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,14, 0,2 nm
Die JEOL JEM-1400 Serie von 120 kV Transmissionselektronenmikroskopen wird in vielen Bereichen wie bspw. der Biologie, Nanotechnologie und Polymerforschung eingesetzt. Um die Bedienerfreundlichkeit weiter zu verbessern und es zu ermöglichen, ...
Jeol
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Vielseitiges, hochauflösendes Kompakt-REM gepaart mit der intuitiven Bedienung eines Table-Top-REMs. Das JEOL JSM-IT200 ist die neueste Entwicklung in der bewährten InTouchScope Rasterelektronenmikroskop-Baureihe. Das IT200 setzt die ...
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