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... gemacht und ermöglicht mittlerweile die atomare Abbildung von Protein-Strukturen. Hierfür steht Wissenschaftlern seit 2017 das Mikroskop CRYO ARM™ 300 mit einer einzigartigen kalten Feldemission (CFEG) und einem sehr ...
Jeol
... 53 pm erreicht. 2. Kalte Hochleistungs-Feldemissionsquelle mit großer Helligkeit und geringer Energiedispersion Das Mikroskop wird mit einer extrem hellen und stabilen kalten Feldemissionsquelle betrieben. Der lichtstarke ...
Jeol
Steigende Anforderungen erfordern stetige Weiterentwicklung. Daher wurde basierend auf der erfolgreichen Baureihe der JEOL InTouchScope ™ REMs das JSM-IT710HR entwickelt. Die neue High-brightness-Feldemissions-Elektronenquelle ermöglicht ...
Jeol
Steigende Anforderungen erfordern stetige Weiterentwicklung. Daher wurde basierend auf der erfolgreichen Baureihe der JEOL InTouchScope ™ REMs das JSM-IT710HR entwickelt. Die neue High-brightness-Feldemissions-Elektronenquelle ermöglicht ...
Jeol
Das von Grund auf neu designte Präparationssystem JIB-PS500i mit fokussiertem Gallium-Ionenstrahl (FIB) ermöglicht in noch nie dagewesener Einfachheit die Herstellung, höchstauflösende Abbildung und Analyse dünner TEM-Lamellen und Querschnitte. ...
Jeol
... der Probenoberfläche und Live-EDX-Mappings zur Verfügung. Mit der patentierten In-Lens Emitter-Technologie erreicht das Mikroskop selbst bei niedrigen Beschleunigungsspannungen eine hohe Auflösung und eignet sich dank ...
Jeol
Vergrößerung: 50 unit - 1.500.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,14, 0,2 nm
... einfaches Handling für ihre Forschungs- und Testzwecke. Um diesen Anforderungen gerecht zu werden, hat JEOL das JEM-120i als Mikroskop der nächsten Generation entwickelt, das von der Bedienung bis zur Wartung sowohl für ...
Jeol
... gemacht und ermöglicht mittlerweile die atomare Abbildung von Protein-Strukturen. Hierfür steht Wissenschaftlern seit 2017 das Mikroskop CRYO ARM™ 300 mit einer einzigartigen kalten Feldemission (CFEG) und einem sehr ...
Jeol
Räumliche Auflösung: 0,08 nm - 0,23 nm
Das JEOL "NEOARM" / JEM-ARM200F zeichnet sich durch eine kalte Feldemissionsquelle (Cold FEG) und einen Cs-Korrektor (ASCOR), der Aberrationen höherer Ordnungen kompensiert, aus. Diese Kombination aus Cold FEG und ASCOR ermöglicht gleichermaßen ...
Jeol
Räumliche Auflösung: 0,14 nm - 0,31 nm
... leistungsfähige Elektronenoptik mit einem hochentwickelten Steuerungssystem für eine verbesserte und intuitive Handhabung vereint. Das Mikroskop eignet sich für eine Vielzahl von Anwendungsgebieten in der Werkstoffkunde ...
Jeol
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