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... Helligkeit und geringer Energiedispersion Das Mikroskop wird mit einer extrem hellen und stabilen kalten Feldemissionsquelle betrieben. Der lichtstarke Strahl ermöglicht eine hochauflösende Bildgebung und schnelle Analyse.
Jeol
... JEOL. Steigern Sie Ihre Produktivität durch die vollintegrierte Softwarelösung – nonstop von der Probennavigation über die Analyse bis zur Berichterstellung. • Neue High-brightness Feldemissions-Elektronenquelle für ...
Jeol
... JEOL. Steigern Sie Ihre Produktivität durch die vollintegrierte Softwarelösung – nonstop von der Probennavigation über die Analyse bis zur Berichterstellung. • Neue High-brightness Feldemissions-Elektronenquelle für ...
Jeol
... gemacht und ermöglicht mittlerweile die atomare Abbildung von Protein-Strukturen. Hierfür steht Wissenschaftlern seit 2017 das Mikroskop CRYO ARM™ 300 mit einer einzigartigen kalten Feldemission (CFEG) und einem sehr ...
Jeol
Räumliche Auflösung: 0,08 nm - 0,23 nm
Das JEOL "NEOARM" / JEM-ARM200F zeichnet sich durch eine kalte Feldemissionsquelle (Cold FEG) und einen Cs-Korrektor (ASCOR), der Aberrationen höherer Ordnungen kompensiert, aus. Diese Kombination aus Cold FEG und ASCOR ermöglicht gleichermaßen ...
Jeol
Räumliche Auflösung: 0,23, 0,19, 0,14, 0,16 nm
Das JEM-F200 ist ein vielseitiges analytisches Elektronenmikroskop der neuesten Generation. Das Gerät wurde mit dem Ziel konzipiert, ein möglichst breites Anwendungsfeld abzudecken. Neben der speziell entwickelten, anwenderfreundlichen ...
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Vergrößerung: 50 unit - 1.500.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,1 nm - 0,31 nm
... über den chemischen Zustand oder die Elemente einer Probe. Auch die Spektroskopie für die Elementaranalyse und die chemische Analyse von Proben ist verfügbar. Merkmale - Energiefilter in der Säule (Omega-Filter) Mit ...
Jeol
Vergrößerung: 10 unit - 1.500.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,14, 0,2 nm
Die JEOL JEM-1400 Serie von 120 kV Transmissionselektronenmikroskopen wird in vielen Bereichen wie bspw. der Biologie, Nanotechnologie und Polymerforschung eingesetzt. Um die Bedienerfreundlichkeit weiter zu verbessern und es zu ermöglichen, ...
Jeol
... schnell und einfach Sekundär- und Rückstreuelektronen-Bilder aufgenommen werden. Das integrierte JEOL EDS-System mit Live-Analyse umfasst u.a. spektrales Mapping, Mehrpunktanalyse, automatische Driftkompensation, Linien-Scans ...
Jeol
JEOL JCM-7000 Tabletop-Rasterelektronenmikroskop Noch nie war der Einstieg in die Welt der Elektronenmikroskopie so einfach: Das Desktop-REM JCM-7000 verknüpft einfachste Probennavigation mit einer Vielzahl fortschrittlicher Autofunktionen. ...
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