Jeol Labormikroskope

1 Firma | 16 produkte
{{#pushedProductsPlacement4.length}} {{#each pushedProductsPlacement4}}
{{product.productLabel}}

{{product.productLabel}} {{product.model}}

{{#if product.featureValues}}
{{#each product.featureValues}} {{content}} {{/each}}
{{/if}}
{{#if product.productPrice }} {{#if product.productPrice.price }}

{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{/if}} {{/if}}
{{#if product.activeRequestButton}}
{{/if}}
{{product.productLabel}}
{{product.model}}

{{#each product.specData:i}} {{name}}: {{value}} {{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}} {{/each}}

{{{product.idpText}}}

{{productPushLabel}}
{{#if product.newProduct}}
{{/if}} {{#if product.hasVideo}}
{{/if}} {{#each product.productTagAssociationList}}
{{/each}}
{{/each}} {{/pushedProductsPlacement4.length}}
{{#pushedProductsPlacement5.length}} {{#each pushedProductsPlacement5}}
{{product.productLabel}}

{{product.productLabel}} {{product.model}}

{{#if product.featureValues}}
{{#each product.featureValues}} {{content}} {{/each}}
{{/if}}
{{#if product.productPrice }} {{#if product.productPrice.price }}

{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{/if}} {{/if}}
{{#if product.activeRequestButton}}
{{/if}}
{{product.productLabel}}
{{product.model}}

{{#each product.specData:i}} {{name}}: {{value}} {{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}} {{/each}}

{{{product.idpText}}}

{{productPushLabel}}
{{#if product.newProduct}}
{{/if}} {{#if product.hasVideo}}
{{/if}} {{#each product.productTagAssociationList}}
{{/each}}
{{/each}} {{/pushedProductsPlacement5.length}}
Elektronenmikroskop
Elektronenmikroskop
JEM-3300

Das hoch-automatisierte Elektronenmikroskop CRYO ARM™ 300 II (JEM-3300) steht für noch schnellere, noch einfachere und noch höher auflösende Kryo-Elektronenmikroskopie. Die automatisierte Einzelpartikelanalyse (engl. “Single Particle ...

Die anderen Produkte ansehen
Jeol
Elektronenmikroskop
Elektronenmikroskop
JEM-ARM300F2

Bereits das JEOL 300kV-Flagschiff-TEM JEM-ARM300F „GRAND ARM“ markierte Rekorde in Auflösung und EDX-Geschwindigkeit. Mit dem Nachfolgemodell GRAND ARM™ 2 wurde die Stabilität des Systems in zahlreichen Aspekten maximiert. So ermöglicht ...

Die anderen Produkte ansehen
Jeol
Rasterelektronenmikroskop
Rasterelektronenmikroskop
JSM-IT710HR

Steigende Anforderungen erfordern stetige Weiterentwicklung. Daher wurde basierend auf der erfolgreichen Baureihe der JEOL InTouchScope ™ REMs das JSM-IT710HR entwickelt. Die neue High-brightness-Feldemissions-Elektronenquelle ermöglicht ...

Die anderen Produkte ansehen
Jeol
Rasterelektronenmikroskop
Rasterelektronenmikroskop
JSM-IT210

Steigende Anforderungen erfordern stetige Weiterentwicklung. Daher wurde basierend auf der erfolgreichen Baureihe der JEOL InTouchScope ™ REMs das JSM-IT710HR entwickelt. Die neue High-brightness-Feldemissions-Elektronenquelle ermöglicht ...

Die anderen Produkte ansehen
Jeol
FIB/SEM-Mikroskop
FIB/SEM-Mikroskop
JIB-PS500i

Das von Grund auf neu designte Präparationssystem JIB-PS500i mit fokussiertem Gallium-Ionenstrahl (FIB) ermöglicht in noch nie dagewesener Einfachheit die Herstellung, höchstauflösende Abbildung und Analyse dünner TEM-Lamellen und Querschnitte. ...

Die anderen Produkte ansehen
Jeol
Elektronenmikroskop
Elektronenmikroskop
JEM-Z300FSC

Das hoch-automatisierte Elektronenmikroskop CRYO ARM™ 300 II (JEM-3300) steht für noch schnellere, noch einfachere und noch höher auflösende Kryo-Elektronenmikroskopie. Die automatisierte Einzelpartikelanalyse (engl. “Single Particle ...

Die anderen Produkte ansehen
Jeol
Transmissionselektronmikroskop
Transmissionselektronmikroskop
JEM-ARM200F

Räumliche Auflösung: 0,08 nm - 0,23 nm

Das JEOL "NEOARM" / JEM-ARM200F zeichnet sich durch eine kalte Feldemissionsquelle (Cold FEG) und einen Cs-Korrektor (ASCOR), der Aberrationen höherer Ordnungen kompensiert, aus. Diese Kombination aus Cold FEG und ASCOR ermöglicht gleichermaßen ...

Die anderen Produkte ansehen
Jeol
Transmissionselektronmikroskop
Transmissionselektronmikroskop
JEM-F200

Räumliche Auflösung: 0,23, 0,19, 0,14, 0,16 nm

Das JEM-F200 ist ein vielseitiges analytisches Elektronenmikroskop der neuesten Generation. Das Gerät wurde mit dem Ziel konzipiert, ein möglichst breites Anwendungsfeld abzudecken. Neben der speziell entwickelten, anwenderfreundlichen ...

Die anderen Produkte ansehen
Jeol
Transmissionselektronmikroskop
Transmissionselektronmikroskop
JEM-2100Plus

Räumliche Auflösung: 0,14 nm - 0,31 nm

Das JEM-2100Plus ist ein Allround-Transmissionselektronenmikroskop, das eine stabile und leistungsfähige Elektronenoptik mit einem hochentwickelten Steuerungssystem für eine verbesserte und intuitive Handhabung vereint. Das Mikroskop ...

Die anderen Produkte ansehen
Jeol
Elektronenmikroskop
Elektronenmikroskop
JEM-2200FS

Vergrößerung: 50 unit - 1.500.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,1 nm - 0,31 nm

... Das JEM-2200FS, ein hochmodernes analytisches Elektronenmikroskop, ist mit einer 200-kV-Feldemissionskanone (FEG) und einem spalteninternen Energiefilter (Omega-Filter) ausgestattet, der ein verlustfreies Bild ermöglicht, bei dem inelastische ...

Die anderen Produkte ansehen
Jeol
Stellen Sie Ihre Produkte aus

Erreichen Sie das ganze Jahr über neue Kunden an einem einzigen Ort

Aussteller werden