Jeol hochauflösende Mikroskope

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Elektronenmikroskop
Elektronenmikroskop
JEM-3300

... gemacht und ermöglicht mittlerweile die atomare Abbildung von Protein-Strukturen. Hierfür steht Wissenschaftlern seit 2017 das Mikroskop CRYO ARM™ 300 mit einer einzigartigen kalten Feldemission (CFEG) und einem sehr ...

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Elektronenmikroskop
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JEM-ARM300F2

... großer Helligkeit und geringer Energiedispersion Das Mikroskop wird mit einer extrem hellen und stabilen kalten Feldemissionsquelle betrieben. Der lichtstarke Strahl ermöglicht eine hochauflösende Bildgebung ...

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Jeol
Rasterelektronenmikroskop
Rasterelektronenmikroskop
JSM-IT710HR

... Probennavigation über die Analyse bis zur Berichterstellung. • Neue High-brightness Feldemissions-Elektronenquelle für hochauflösende Abbildung und Analytik "• Zeromag"-Funktion: Probennavigation einfacher denn je. • ...

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FIB/SEM-Mikroskop
FIB/SEM-Mikroskop
JIB-PS500i

Das von Grund auf neu designte Präparationssystem JIB-PS500i mit fokussiertem Gallium-Ionenstrahl (FIB) ermöglicht in noch nie dagewesener Einfachheit die Herstellung, höchstauflösende Abbildung und Analyse dünner TEM-Lamellen und Querschnitte. ...

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Transmissionselektronmikroskop
Transmissionselektronmikroskop
JEM-F200

Räumliche Auflösung: 0,23, 0,19, 0,14, 0,16 nm

Das JEM-F200 ist ein vielseitiges analytisches Elektronenmikroskop der neuesten Generation. Das Gerät wurde mit dem Ziel konzipiert, ein möglichst breites Anwendungsfeld abzudecken. Neben der speziell entwickelten, anwenderfreundlichen ...

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Elektronenmikroskop
Elektronenmikroskop
JEM-1400Flash

Vergrößerung: 10 unit - 1.500.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,14, 0,2 nm

Die JEOL JEM-1400 Serie von 120 kV Transmissionselektronenmikroskopen wird in vielen Bereichen wie bspw. der Biologie, Nanotechnologie und Polymerforschung eingesetzt. Um die Bedienerfreundlichkeit weiter zu verbessern und es zu ermöglichen, ...

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Rasterelektronenmikroskop
Rasterelektronenmikroskop
miXcroscopy™

... Ein und derselbe Probenhalter kann nun sowohl für das Lichtmikroskop als auch für das Rasterelektronenmikroskop verwendet werden. Durch die Verwaltung der Objekttischinformationen mit einer speziellen Software ist es dem System möglich, ...

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FIB/SEM-Mikroskop
FIB/SEM-Mikroskop
JIB-4700F

Vergrößerung: 20 unit - 1.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 4, 1,6, 1,2 nm

Fortschritte in den Materialwissenschaften und in den Life Sciences verlangen immer höhere Anforderungen an die bildgebenden, analytischen und präparativen Möglichkeiten moderner Focused-Ion-Beam-Systeme (FIB). Das neue Mehrstrahlsystem ...

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