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Steigende Anforderungen erfordern stetige Weiterentwicklung. Daher wurde basierend auf der erfolgreichen Baureihe der JEOL InTouchScope ™ REMs das JSM-IT710HR entwickelt. Die neue High-brightness-Feldemissions-Elektronenquelle ermöglicht ...
Jeol
Steigende Anforderungen erfordern stetige Weiterentwicklung. Daher wurde basierend auf der erfolgreichen Baureihe der JEOL InTouchScope ™ REMs das JSM-IT710HR entwickelt. Die neue High-brightness-Feldemissions-Elektronenquelle ermöglicht ...
Jeol
... Durchsatz und einfaches Handling ab: Zusammen mit dem vollintegrierten OmniProbe-Werkzeug (Oxford Instruments) können so automatisch zahlreiche Lamellen in Serie produziert werden. Für schnelle Arbeitabläufe stehen ...
Jeol
Das hoch-automatisierte Elektronenmikroskop CRYO ARM™ 300 II (JEM-3300) steht für noch schnellere, noch einfachere und noch höher auflösende Kryo-Elektronenmikroskopie. Die automatisierte Einzelpartikelanalyse ...
Jeol
Räumliche Auflösung: 0,08 nm - 0,23 nm
... niedrigen Spannungen bis 30 kV. Durch das JEOL Cosmos System kann eine schnelle und präzise Optimierung des Korrektors automatisch durchgeführt werden und ermöglicht somit einen hohen Probendurchsatz. Das eABF STEM-Detektionssystem ...
Jeol
Räumliche Auflösung: 0,14 nm - 0,31 nm
... 3. Vielzahl automatischer Funktionen Das JEM-2100Plus bietet die komplette Bandbreite automatischer Funktionen, einschließlich Autofokus, automatische Kontrast- u. Helligkeitsoptimierung, ...
Jeol
... oder Touchscreen erfolgen. Durch die schnelle Datenerfassung werden Aufnahmen und Analysen zu einfachen Aufgaben. Dank automatischer Parameter-Optimierung können mit dem IT200 schnell und einfach Sekundär- und Rückstreuelektronen-Bilder ...
Jeol
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