Erreichen Sie das ganze Jahr über neue Kunden an einem einzigen Ort
Aussteller werden
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
Steigende Anforderungen erfordern stetige Weiterentwicklung. Daher wurde basierend auf der erfolgreichen Baureihe der JEOL InTouchScope ™ REMs das JSM-IT710HR entwickelt. Die neue High-brightness-Feldemissions-Elektronenquelle ermöglicht ...
Jeol
Steigende Anforderungen erfordern stetige Weiterentwicklung. Daher wurde basierend auf der erfolgreichen Baureihe der JEOL InTouchScope ™ REMs das JSM-IT710HR entwickelt. Die neue High-brightness-Feldemissions-Elektronenquelle ermöglicht ...
Jeol
... Durchsatz und einfaches Handling ab: Zusammen mit dem vollintegrierten OmniProbe-Werkzeug (Oxford Instruments) können so automatisch zahlreiche Lamellen in Serie produziert werden. Für schnelle Arbeitabläufe stehen ...
Jeol
... EDX-Analytik an einer Vielzahl von Probenpositionen ermöglicht. Darüber hinaus stehen neue Funktionen zur Verfügung wie die automatische Kalibration von Vergrößerung und EDX sowie die Entzerrung trapezförmiger, perspektivischer ...
Jeol
Vergrößerung: 50 unit - 1.500.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,14, 0,2 nm
... einfaches Handling für ihre Forschungs- und Testzwecke. Um diesen Anforderungen gerecht zu werden, hat JEOL das JEM-120i als Mikroskop der nächsten Generation entwickelt, das von der Bedienung bis zur Wartung sowohl für ...
Jeol
Das hoch-automatisierte Elektronenmikroskop CRYO ARM™ 300 II (JEM-3300) steht für noch schnellere, noch einfachere und noch höher auflösende Kryo-Elektronenmikroskopie. Die automatisierte Einzelpartikelanalyse ...
Jeol
Räumliche Auflösung: 0,08 nm - 0,23 nm
... niedrigen Spannungen bis 30 kV. Durch das JEOL Cosmos System kann eine schnelle und präzise Optimierung des Korrektors automatisch durchgeführt werden und ermöglicht somit einen hohen Probendurchsatz. Das eABF STEM-Detektionssystem ...
Jeol
Räumliche Auflösung: 0,14 nm - 0,31 nm
... 3. Vielzahl automatischer Funktionen Das JEM-2100Plus bietet die komplette Bandbreite automatischer Funktionen, einschließlich Autofokus, automatische Kontrast- u. Helligkeitsoptimierung, ...
Jeol
... oder Touchscreen erfolgen. Durch die schnelle Datenerfassung werden Aufnahmen und Analysen zu einfachen Aufgaben. Dank automatischer Parameter-Optimierung können mit dem IT200 schnell und einfach Sekundär- und Rückstreuelektronen-Bilder ...
Jeol
Erreichen Sie das ganze Jahr über neue Kunden an einem einzigen Ort
Aussteller werden
Andere (bitte angeben)
Helfen Sie uns, uns zu verbessern:
Zeichen übrig