Hitachi Mikroskope für Analyse

Vergrößerung: 3.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,8, 0,4, 1,2 nm

... Die Cold Field Emission-Quelle ist ideal für die hochauflösende Bildgebung bei geringer Quellengröße und Energieverteilung. Die innovative CFE-Kanonen-Technologie trägt zum ultimativen FE-SEM mit überragender Strahlhelligkeit und -stabilität ...

Vergrößerung: 20 unit - 2.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,9, 0,8 nm

... Das SU8700 läutet eine neue Ära der ultrahochauflösenden Schottky-Feldemissions-Rasterelektronenmikroskope in der langjährigen Hitachi EM-Produktpalette ein. Diese revolutionäre FE-SEM-Plattform bietet vielseitige Bildgebung, hohen Sondenstrom, ...

Vergrößerung: 20 unit - 2.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,7, 0,6 nm

... Das SU8600 läutet eine neue Ära der ultrahochauflösenden Kaltfeld-Emissions-Rasterelektronenmikroskope in der langjährigen Hitachi EM-Produktpalette ein. Diese revolutionäre CFE-SEM-Plattform bietet vielseitige Bildgebung, Automatisierung, ...

Vergrößerung: 20 unit - 2.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,9, 0,8 nm

... FE-SEM erfordert nicht nur eine hohe Leistung, sondern auch eine Vielzahl von Funktionen wie großflächige Beobachtung, In-situ-Analyse, variabler Druck, hochauflösende Bildgebung bei niedrigen Beschleunigungsspannungen ...

Räumliche Auflösung: 1,2 nm

... Mit EM Wizard werden Anfänger über Nacht zu Experten. - Die automatische Achsenjustierung (Autokalibrierung) versetzt das Mikroskop bei Bedarf in den "besten Zustand". - Eine robuste "ausziehbare" Probenkammer nimmt große ...

Vergrößerung: 5 unit - 800.000 unit
Räumliche Auflösung: 15, 4, 3 nm

... Leistung und Power auf einer flexiblen Plattform Die Rasterelektronenmikroskope SU3800/SU3900 von Hitachi High-Tech bieten sowohl Bedienbarkeit als auch Erweiterbarkeit. Der Bediener kann viele Vorgänge automatisieren und ihre hohe Leistung ...

Vergrößerung: 6 unit - 800.000 unit
Räumliche Auflösung: 4, 5, 15 nm

... und kompaktes Design aus, so dass es in begrenzten Büro-, Labor- oder sogar mobilen Räumen installiert werden kann. Dieses Mikroskop ist sowohl für Anfänger als auch für erfahrene Mikroskopiker konzipiert und eignet sich ...

Vergrößerung: 10 unit - 25.000.054 unit
Gewicht: 54 kg
Länge: 614, 617 mm

... Die TM4000-Serie zeichnet sich durch Innovationen und Spitzentechnologien aus, die die Möglichkeiten eines Tischmikroskops neu definieren. Diese neue Generation der seit langem bewährten Hitachi-Tischmikroskope (TM) vereint Benutzerfreundlichkeit, ...

Gewicht: 990 kg
Breite: 1.190 mm
Höhe: 1.800 mm

... Vakuumumgebung durch unser intuitives Design der Tastkopfbedienung beibehalten wird. - Dieses REM-basierte Prüfsystem wird zur Analyse von Defekten und Fehlern eingesetzt, die während des Herstellungsprozesses von Halbleiterbauteilen ...

... Das Hitachi NE4000 nanoEBAC ist ein elektronenstrahlbasiertes Prüfsystem für die elektrische Charakterisierung und EBAC-Analyse und Bildgebung von mikroelektronischen Bauteilverbindungen, Materialien und Komponenten. Die ...