Hitachi automatische Probenvorbereitungssysteme

... Dieses Gerät dient der Vorbereitung des gewünschten Waferteils für die Analyse mit STEM, TEM usw. durch Extraktion einer Mikroprobe mit einem Ionenstrahl in der Vakuumkammer eines FIB-Systems. FIB-Mikroprobenentnahmegerät und FIB-Mikroprobenentnahmeverfahren Ein ...

... Der Hitachi MC1000 Ionen-Sputter-Coater wurde nach den außergewöhnlichen Standards von Hitachi entwickelt und gebaut und ist bereit, in Ihrem Labor über Jahre hinweg zu funktionieren. Der MC1000 Ion Sputter Coater ist ein Probenvorbereitungsgerät ...

... Der ZONESEMⅡ Tabletop Sample Cleaner verwendet eine UV-basierte Reinigungstechnologie zur Minimierung oder Beseitigung von Kohlenwasserstoffverunreinigungen für elektronenmikroskopische Aufnahmen. Bei der Vorbereitung, Handhabung oder ...

... Das IM4000II unterstützt sowohl das Querschnittsfräsen als auch das Flachfräsen zur Vorbereitung von Proben je nach Zweck. Kühltemperaturregelung, Luftschutzhalterung und verschiedene Optionen ermöglichen die Vorbereitung verschiedener ...

... Das fortschrittlichste System mit breitem Ionenstrahl zur Herstellung von Querschnitts- oder Flachfräsproben für die Elektronenmikroskopie in außergewöhnlich hoher Qualität. Das ArBlade 5000 ist mit einer schnell fräsenden Ar-Ionenkanone ...

... Der innovative ZONETEM II Desktop Sample Cleaner verwendet eine UV-basierte Reinigungstechnologie zur Minimierung oder Beseitigung von Kohlenwasserstoffverunreinigungen für die elektronenmikroskopische Bildgebung. ZONE bietet eine einfach ...