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{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
... Das Conducell 4UxF ist in der Lage, einen breiten Leitfähigkeitsbereich zu messen (von 1 bis 500'000 µS/cm (Analog) und 1 bis 300'000 µS/cm (Arc)) und eignet sich daher sowohl für Messungen von niedrigen als auch von ...
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... Das Conducell 4UxF ist in der Lage, einen breiten Leitfähigkeitsbereich zu messen (von 1 bis 500'000 µS/cm (Analog) und 1 bis 300'000 µS/cm (Arc)) und eignet sich daher sowohl für Messungen von niedrigen als auch von ...
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