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... 1. Einmaliges Scannen für Profil- und Rauheitsparameter wie Ra und Pt 2. Oberflächenrauhigkeit: R-Parameter, P-Parameter, W-Parameter, usw. 3. Auswertung des Oberflächenprofils: Es kann Radius, Winkel, Abstand, Koordinaten, Kreis, kreisförmigen ...
Chotest Technology Inc.
... 1. Auswertung der Oberflächenkontur: Es kann Radius, Winkel, Abstand, Koordinaten, Kreis, kreisförmigen Querschnitt zu bewerten, und bestimmen die Punkte, jeder Schnittpunkt, Koordinatenachse, gerade Linie, vertikale Linie, Kreis und ...
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... SJ5780-200 Bidirektionale Scannen Kontur Messgerät ist ein großer Bereich, hochpräzise aktive Scannen umfassende Kontur Messgerät. Das Instrument X-Achse, Z-Achse mit unabhängigen Bewegungs-System, die Verwendung von fortschrittlichen ...
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... SJ5780-300 Bidirektionale Scannen Kontur Messgerät ist eine große Reichweite, hochpräzise aktive Scannen umfassende Kontur Messgerät. Das Instrument X-Achse, Z-Achse mit unabhängigen Bewegungs-System, die Verwendung von fortschrittlichen ...
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... SJ5780-400 Bidirektionale Scannen Kontur Messgerät ist ein großer Bereich, hochpräzise aktive Scannen umfassende Kontur Messgerät. Das Instrument X-Achse, Z-Achse mit unabhängigen Bewegungs-System, die Verwendung von fortschrittlichen ...
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... verschiedene Präzisionsteile mit glatter und rauer Oberfläche messen. Anwendungen Es wird für die Messung und Analyse der Oberflächenrauheit und des Profils von Präzisionskomponenten aus den Bereichen Halbleiter, 3C-Elektronik, ...
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... verschiedene Präzisionsteile mit glatter und rauer Oberfläche messen. Anwendungen Es wird für die Messung und Analyse der Oberflächenrauheit und des Profils von Präzisionskomponenten aus den Bereichen Halbleiter, 3C-Elektronik, ...
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... kann es verschiedene Präzisionsteile mit glatter und rauer Oberfläche messen. Es wird für die Messung und Analyse der Oberflächenrauheit und des Profils von Präzisionskomponenten aus den Bereichen Halbleiter, 3C-Elektronik, ...
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... Standard-Sichtfeld: (0,98*0,98)mm Maximales Sichtfeld: (6x6)mm Reflexionsvermögen des Testobjekts: 0,5 % ~100 % Reproduzierbarkeit der Rauheit RMS: 0,005nm Abtastbereich: ≤10mm Auflösung: 0.1nm Genauigkeit der Stufenmessung: ...
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