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... 1. Einmaliges Scannen für Profil- und Rauheitsparameter wie Ra und Pt 2. Oberflächenrauhigkeit: R-Parameter, P-Parameter, W-Parameter, usw. 3. Auswertung des Oberflächenprofils: Es kann Radius, Winkel, Abstand, Koordinaten, Kreis, kreisförmigen ...
Chotest Technology Inc.
... 1. Auswertung der Oberflächenkontur: Es kann Radius, Winkel, Abstand, Koordinaten, Kreis, kreisförmigen Querschnitt zu bewerten, und bestimmen die Punkte, jeder Schnittpunkt, Koordinatenachse, gerade Linie, vertikale Linie, Kreis und ...
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... SJ5780-200 Bidirektionale Scannen Kontur Messgerät ist ein großer Bereich, hochpräzise aktive Scannen umfassende Kontur Messgerät. Das Instrument X-Achse, Z-Achse mit unabhängigen Bewegungs-System, die Verwendung von fortschrittlichen ...
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... SJ5780-300 Bidirektionale Scannen Kontur Messgerät ist eine große Reichweite, hochpräzise aktive Scannen umfassende Kontur Messgerät. Das Instrument X-Achse, Z-Achse mit unabhängigen Bewegungs-System, die Verwendung von fortschrittlichen ...
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... SJ5780-400 Bidirektionale Scannen Kontur Messgerät ist ein großer Bereich, hochpräzise aktive Scannen umfassende Kontur Messgerät. Das Instrument X-Achse, Z-Achse mit unabhängigen Bewegungs-System, die Verwendung von fortschrittlichen ...
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... verschiedene Präzisionsteile mit glatter und rauer Oberfläche messen. Anwendungen Es wird für die Messung und Analyse der Oberflächenrauheit und des Profils von Präzisionskomponenten aus den Bereichen Halbleiter, 3C-Elektronik, ...
Chotest Technology Inc.
... verschiedene Präzisionsteile mit glatter und rauer Oberfläche messen. Anwendungen Es wird für die Messung und Analyse der Oberflächenrauheit und des Profils von Präzisionskomponenten aus den Bereichen Halbleiter, 3C-Elektronik, ...
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Meßbereich: 1 mm
... Das optische Hybrid-3D-Profilometer der Superview WT-Serie wird für die Messung von Oberflächen verschiedener Präzisionskomponenten und -materialien im Subnanometerbereich eingesetzt. Es integriert die Leistungsmerkmale ...
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Meßbereich: 0 mm
... Der Stylus Nano Profiler NS200 ist ein ultrapräzises Kontaktmessgerät zur Messung der Oberflächenrauheit und des mikroskopischen Profils, wie z. B. der Mikro-Nano-Stufenhöhe und der Filmdicke. Der NS200 ...
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... kann es verschiedene Präzisionsteile mit glatter und rauer Oberfläche messen. Es wird für die Messung und Analyse der Oberflächenrauheit und des Profils von Präzisionskomponenten aus den Bereichen Halbleiter, 3C-Elektronik, ...
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