Chotest kontaktlose Messsysteme
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... Basierend auf dem Prinzip der visuellen Messung mit präzisen Bildanalysealgorithmen, ausgestattet mit einer doppelt telezentrischen optischen Linse mit hoher Schärfentiefe, ermöglichen die Blitzmessmaschinen der Serie VX3000 eine schnelle ...
Chotest Technology Inc.
... Basierend auf dem Prinzip der visuellen Messung mit präzisen Bildanalysealgorithmen, ausgestattet mit einer doppelt telezentrischen optischen Linse mit hoher Schärfentiefe, ermöglichen die Blitzmessmaschinen der Serie VX3000 eine schnelle ...
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... Basierend auf dem Prinzip der visuellen Messung mit präzisen Bildanalysealgorithmen, ausgestattet mit einer doppelt telezentrischen optischen Linse mit hoher Schärfentiefe, ermöglichen die Blitzmessmaschinen der Serie VX3000 eine schnelle ...
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... Basierend auf dem Prinzip der visuellen Messung mit präzisen Bildanalysealgorithmen, ausgestattet mit einer doppelt telezentrischen optischen Linse mit hoher Schärfentiefe, ermöglichen die Blitzmessmaschinen der Serie VX3000 eine schnelle ...
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... Das VX1100 eignet sich für präzise Dimensionsmessungen in den Bereichen Maschinen, Elektronik, Formen, Spritzguss, Hardware, Gummi, elektrische Niederspannungsgeräte, magnetische Materialien, Präzisionsstanzen, Steckverbinder, Anschlüsse, ...
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... Artikel Nr.: VX4230S Produktname: Blitzlicht-Messmaschine Bildsenor: 12M CMOS Sichtfeld:φ230mm Schärfentiefe: 50mm Arbeitsabstand: 400mm Genauigkeit: ±5μm (ohne Stitching) Auflösung: 0.1μm Belastbarkeit: 15kg Größe (LxBxH): 830×605×2030mm Gewicht: ...
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... Die mikroskopische Messmaschine MX3200 ermöglicht durch die Kombination von mikroskopischer Bildgebung und herkömmlicher Videomessung die Messung kleinster Merkmale in einem weiten Bereich. Ausgestattet mit einem motorisierten ...
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... Das Messsystem für kritische Abmessungen und Überlagerungen von strukturierten Wafern ist ein optisches Prüfgerät, das sowohl eine hochpräzise Prüfung der XY-Ebene als auch eine 3D-Topografiemessung im Subnanometerbereich ...
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