Optische Bildgebungsanwendungen sind vielfältig. Die Prüfung der Wellenlänge eines Systemdesigns ist wesentlich für die Entwicklung, finale Ausrichtung und Qualifizierung.
Nachtsicht, IR und Wärmebildgebungssysteme für Raumfahrt und Verteidigung, Lithografie-Subsysteme, Fernerkundungsteleskope sowie die Qualifikation exotischer Materialien stellen eine große Bandbreite von Wellenlängenanforderungen dar, die allesamt von der Prüfung der Wellenlänge des Designs mit einem Infrarot-Interferometer-System profitieren.
ZYGO wird seit langem als Weltmarktführer für interferometrische Testgeräte anerkannt und hat viele, speziell ausgestattete interferometrische Systeme entworfen und gefertigt, einschließlich für NIR-, SWIR-, MWIR- und LWIR-Wellenlängen. ZYGO entwirft und fertigt außerdem zahlreiche Referenzoptiken (Messobjektive und Referenzflächen) für diese Wellenlängen.
• Großer Wellenlängenbereich:
• NIR: 1,053 µm & 1,064 µm
• SWIR: 1,55 µm
• MWIR: 3,39 µm
• LWIR: 10,6 µm
• Die QFAS-Ausrichtungsansicht nach Wellenlänge vereinfacht die Einrichtung von Infrarot-Testsystemen und -Komponenten.
• Die QPSI™ Erfassungstechnologie, die nur bei ZYGO erhältlich ist, ermöglicht zuverlässige Messungen in schwingungsanfälligen Umgebungen und ist für NIR- SWIR- und MWIR-Modelle erhältlich.
• Die optionale DynaPhase® Sofortdatenerfassung für schwingungsunempfindliche Messungen eignet sich für die schwierigsten Umgebungen.