Optisches Profilometer NewView™ 9000

3DinterferometrischRauheit

Das optische 3D-Oberflächen-Profilometer NewView™ 9000 bietet leistungsstarke Vielseitigkeit beim berührungslosen optischen Oberflächen-Profiling. Mit diesem System können eine Vielzahl von Oberflächentypen einfach und schnell gemessen werden, einschließlich glatter, rauer, flacher, geneigter und stufiger Oberflächen. Sämtliche Messungen erfolgen zerstörungsfrei, schnell und erfordern keine Probenvorbereitung. Den Kern des Systems bildet die Kohärenz-Scaninterferometrie (CSI)-Technologie von ZYGO, welche bei allen Auflösungen Präzision im Sub-Nanometerbereich bietet, eine größere Bandbreite von Oberflächen schneller und präziser messen kann als alle sonstigen auf dem Markt verfügbaren Technologien und so Ihre Rendite optimiert. Die brandneuen NewView™ 9000-Profilometer sind mit einem Tripel-Zoom-Revolver ausgestattet, der mit diskreten und speziell für das System gefertigten Zoom-Optiken bestückt werden kann. Die Konfigurationen des Probentischs reichen von vollständig manuell bis vollständig automatisiert mit codiertem Hub. Unabhängig von Ihrer Konfiguration bieten alle NewView™ 9000-Systeme hochgenaue und schnelle Messungen sowie Benutzerfreundlichkeit zu einem attraktiven Preis, der das System zur idealen Wahl für Vielseitigkeit und Mehrwert unter den optischen 3D-Profilometern macht.