Optisches Profilometer Nexview™ NX2

3Dinterferometrischmit Weißlichtinterferometrie

Für anspruchsvollste Anwendungen entwickelt, kombiniert das optische 3D-Profilometer Nexview™ NX2 eine herausragende Präzision, fortschrittliche Algorithmen, Flexibilität beim Anwendungsbereich sowie Automatisierung in einem einzigen Paket, das das modernste Profilometer für Kohärenz-Scaninterferometrie (CSI) von ZYGO darstellt. Die komplett berührungslose Technologie optimiert die Rendite, indem sie bei allen Vergrößerungen Präzision im Sub-Nanometerbereich bietet und eine größere Bandbreite von Oberflächen schneller und präziser misst als andere vergleichbare Technologien auf dem Markt. Mit so vielseitigen Anwendungen wie Flachheit, Rauheit und Welligkeit, Dünnschichten, Stufenhöhe und mehr auf praktisch jeder Oberfläche und jedem Material ist das Nexview NX2 ein Profilometer, mit dem Sie keine Kompromisse eingehen müssen. Als Flaggschiff der neuesten Generation bietet Nexview™ NX2 eine Vielzahl von differenzierten Funktionen, die auf eine schnellere, bessere und zuverlässigere Messtechnik des Nutzers abzielen: • Dank des großflächigen Sensors mit 1,9 Millionen Pixel und hoher Empfindlichkeit können Sie in einer Messung mehr erfassen. • Hochgeschwindigkeitsmessungen dauern nur wenige Sekunden und verbessern dadurch die Produktivität und Prozesskontrolle. • Die Fokus- und Einrichtungsautomatisierung minimiert anwenderspezifische Schwankungen und verkürzt die notwendigen Schulungen, so dass Daten schneller verfügbar sind. • Die überragende Messleistung ermöglicht beispiellose Präzision und Wiederholbarkeit für die anspruchsvollsten Produktionsanwendungen.