Röntgenmikroskop ZEISS XRADIA Context microCT

für Analysefür elektronische Bauteile3D

ZEISS Xradia Context ist ein anwenderfreundliches 3D-Mikro-Computertomographie-System (microCT) für die Analyse aller Probenarten. Ein hochformatiger Detektor ermöglicht die hohe Auflösung feiner Details auch bei relativ großen Imaging-Volumen. Das System verfügt über ein großes Sehfeld und überzeugt mit dem schnellen Einsetzen und Ausrichten von Proben, optimierten Aufnahme-Workflows sowie kurzen Belichtungs- und Datenrekonstruktionszeiten. Erfassen Sie 3D-Daten von komplett intakten elektrischen Bauelementen, großen Materialproben oder biologischen Proben. Führen Sie zerstörungsfreie Fehleranalysen durch, um interne Defekte ohne Zerschneiden der Probe oder des Werkstücks zu identifizieren. Charakterisieren und Quantifizieren Sie leistungsbestimmende Unregelmäßigkeiten in Ihren Geoproben, wie Porosität, Risse, Einschlüsse, Defekte oder mehrere Phasen. Führen Sie Entwicklungsstudien in 4D durch, mithilfe einer Ex-situ-Behandlung oder einer In-situ-Probenmanipulation. Stellen Sie eine Verbindung zur Umgebung für korrelative Mikroskopie von ZEISS her und führen Sie zerstörungsfreies Imaging in 3D durch, um Bereiche für die nachfolgende Analyse zu identifizieren. 3D-Imaging im Gesamtkontext Xradia Context zeichnet sich durch überragende Bildqualität, Stabilität und Nutzbarkeit aus und bietet eine effiziente Workflow-Umgebung mit hohem Durchsatz Ein Detektor mit hoher Pixeldichte (6 Megapixel) ermöglicht es Ihnen, auch bei relativ großen Bildvolumen feine Details in ihrem vollen 3D-Kontext aufzulösen