1. Metrologie - Labor
  2. Laborbedarf
  3. Röntgenmikroskop
  4. ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle

Röntgenmikroskop ZEISS Xradia Ultra
Labor3Dhochauflösend

Röntgenmikroskop
Röntgenmikroskop
Röntgenmikroskop
Zu meinen Favoriten hinzufügen
Zum Produktvergleich hinzufügen
 

Eigenschaften

Typ
Röntgen
Anwendungsbereich
Labor
Beobachtungstechnik
3D
Weitere Eigenschaften
hochauflösend

Beschreibung

Röntgennanotomografie an einem Synchrotron ermöglicht zerstörungsfreies 3D-Imaging im Nanobereich. Allerdings muss man sich für eine sehr begrenzte Strahlzeit bewerben. Wie wäre es, wenn Sie keine Zeitzuteilung im Synchrotron mehr abwarten müssten? Stellen Sie sich vor, Sie hätten die Möglichkeiten eines Synchrotrons in Ihrem eigenen Labor. Die ZEISS Xradia Ultra Produktfamilie bietet Ihnen zerstörungsfreie 3D-Röntgen-Mikroskope (XRM), mit denen Sie Auflösungen im Nanobereich und in synchrotronähnlicher Qualität erzielen. Sie haben die Wahl zwischen zwei Modellen: ZEISS Xradia 810 Ultra und ZEISS Xradia 800 Ultra sind beide auf eine optimale Bildqualität für Ihre gängigsten Anwendungsgebiete abgestimmt. Zerstörungsfreies Imaging in der nativen Umgebung 3D-Röntgen-Imaging im Nanobereich in einer räumlichen Auflösung bis hinunter zu 50 nm und Voxelgrößen von 16 nm In-situ-Experimente in 3D oder 4D Quantifizierung von Nanostrukturen und Nutzung der Daten als Grundlage für die Modellbildung Hart- und Weichmaterialien untersuchen Zerstörungsfreies Imaging im Nanobereich – der Turbo für Ihre Forschung Nutzen Sie das einzigartige zerstörungsfreie Imaging, um Phänomene im Nanobereich in ihrer nativen Umgebung dreidimensional zu beobachten. Profitieren Sie von dem derzeit einzigen Gerät, das die Lücke zwischen XRMs mit Submikronauflösung (z. B. ZEISS Xradia Versa) und hochauflösendem – allerdings zerstörendem – 3D-Imaging (z. B. FIB-SEMs) schließt. Mit den integrierten In-situ-Lösungen führen Sie fortschrittliches zerstörungsfreies 3D-/4D-Röntgen-Imaging direkt in Ihrem Labor durch,

Kataloge

Für dieses Produkt ist kein Katalog verfügbar.

Alle Kataloge von ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle anzeigen
* Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.