Feldemissions-Rasterelektronen-Mikroskop ZEISS Sigma​

für AnalyseInspektionfür Materialien

Die Produktfamilie ZEISS Sigma verbindet die Technologie des Feldemissions-Rasterelektronenmikroskops (FE-SEM) mit einer hervorragenden Benutzerfreundlichkeit. Sie können Ihre Bildgebungs- und Analyseroutinen strukturieren und Ihre Produktivität steigern. Untersuchen Sie neue Materialien, Partikel für die Qualitätssicherung oder biologische oder geologische Proben. Bei der hochauflösenden Bildgebung müssen Sie keine Kompromisse mehr eingehen – entscheiden Sie sich einfach für niedrige Spannungen. So profitieren Sie von einer verbesserten Auflösung und erhöhtem Kontrast bei 1 kV oder niedriger. Dank moderner analytischer Mikroskopie mit optimal abgestimmter EDX-Geometrie erhalten Sie analytische Daten mit doppelter Geschwindigkeit und größerer Präzision.​ Die Sigma-Produktfamilie öffnet Ihnen die Tür zur Welt der High-End-Nanoanalyse. Sigma 360 ist die erste Wahl für zentrale Einrichtungen – ein intuitives FE-SEM für das Imaging und die Analyse. Sigma 560 bietet mit der optimal abgestimmten EDX-Geometrie Analysen mit hohem Durchsatz und ermöglicht automatisierte In-situ-Experimente. Erste Wahl für zentrale Einrichtungen. Intuitive Bildaufnahme. Geführte Anleitung von der Einrichtung bis zu den KI-gestützten Ergebnissen. Entdecken Sie den intuitiven Imaging-Workflow. Sichtbarer Unterschied schon bei 1 kV und weniger Erzielen Sie eine verbesserte Auflösung und optimierten Kontrast. Für druckvariable Bildgebung in Extrembereichen. Erzielen Sie hervorragende Ergebnisse bei Nichtleitern.