1. Metrologie - Labor
  2. Laborbedarf
  3. Elektronenmikroskop
  4. ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle

Feldemissions-Rasterelektronen-Mikroskop ZEISS Sigma​
für AnalyseInspektionfür Materialien

Feldemissions-Rasterelektronen-Mikroskop - ZEISS Sigma​ - ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle - für Analyse / Inspektion / für Materialien
Feldemissions-Rasterelektronen-Mikroskop - ZEISS Sigma​ - ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle - für Analyse / Inspektion / für Materialien
Feldemissions-Rasterelektronen-Mikroskop - ZEISS Sigma​ - ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle - für Analyse / Inspektion / für Materialien - Bild - 2
Feldemissions-Rasterelektronen-Mikroskop - ZEISS Sigma​ - ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle - für Analyse / Inspektion / für Materialien - Bild - 3
Feldemissions-Rasterelektronen-Mikroskop - ZEISS Sigma​ - ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle - für Analyse / Inspektion / für Materialien - Bild - 4
Feldemissions-Rasterelektronen-Mikroskop - ZEISS Sigma​ - ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle - für Analyse / Inspektion / für Materialien - Bild - 5
Feldemissions-Rasterelektronen-Mikroskop - ZEISS Sigma​ - ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle - für Analyse / Inspektion / für Materialien - Bild - 6
Zu meinen Favoriten hinzufügen
Zum Produktvergleich hinzufügen
 

Eigenschaften

Typ
Feldemissions-Rasterelektronen
Anwendungsbereich
Inspektion, für Analyse, für Materialien
Weitere Eigenschaften
hochauflösend, automatisiert

Beschreibung

Die Produktfamilie ZEISS Sigma verbindet die Technologie des Feldemissions-Rasterelektronenmikroskops (FE-SEM) mit einer hervorragenden Benutzerfreundlichkeit. Sie können Ihre Bildgebungs- und Analyseroutinen strukturieren und Ihre Produktivität steigern. Untersuchen Sie neue Materialien, Partikel für die Qualitätssicherung oder biologische oder geologische Proben. Bei der hochauflösenden Bildgebung müssen Sie keine Kompromisse mehr eingehen – entscheiden Sie sich einfach für niedrige Spannungen. So profitieren Sie von einer verbesserten Auflösung und erhöhtem Kontrast bei 1 kV oder niedriger. Dank moderner analytischer Mikroskopie mit optimal abgestimmter EDX-Geometrie erhalten Sie analytische Daten mit doppelter Geschwindigkeit und größerer Präzision.​ Die Sigma-Produktfamilie öffnet Ihnen die Tür zur Welt der High-End-Nanoanalyse. Sigma 360 ist die erste Wahl für zentrale Einrichtungen – ein intuitives FE-SEM für das Imaging und die Analyse. Sigma 560 bietet mit der optimal abgestimmten EDX-Geometrie Analysen mit hohem Durchsatz und ermöglicht automatisierte In-situ-Experimente. Erste Wahl für zentrale Einrichtungen. Intuitive Bildaufnahme. Geführte Anleitung von der Einrichtung bis zu den KI-gestützten Ergebnissen. Entdecken Sie den intuitiven Imaging-Workflow. Sichtbarer Unterschied schon bei 1 kV und weniger Erzielen Sie eine verbesserte Auflösung und optimierten Kontrast. Für druckvariable Bildgebung in Extrembereichen. Erzielen Sie hervorragende Ergebnisse bei Nichtleitern.

Kataloge

Für dieses Produkt ist kein Katalog verfügbar.

Alle Kataloge von ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle anzeigen
* Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.