Labor-EDXRF-Spektrometer mit sekundären Zielen
Die energiedispersiven Röntgenfluoreszenzspektrometer (EDXRF) von Xenemetrix bieten die ultimative zerstörungsfreie Lösung für Anwendungen in der Elementaranalyse.
Der Silizium-Drift-Detektor (SDD) liefert gleichzeitig ein geringeres elektronisches Rauschen und eine höhere Zählrate, was sich in einer höheren Energieauflösung und schnelleren Ergebnissen im Vergleich zum Si-PIN-Detektor niederschlägt.
Acht sekundäre Ziele im Nova-Modell bieten maximale Empfindlichkeit für eine schnelle und präzise Quantifizierung selbst in komplexen Matrizen wie Legierungs-, Kunststoff- und geologischen Proben. Die Targets sind vollständig anpassbar, um Nachweisgrenzen im Sub-ppm-Bereich in einer Vielzahl von Elementen zu erreichen.
Die vielseitigen Laborspektrometer können Flüssigkeiten, Feststoffe, Schlämme, Pulver, Pellets und Luftfilter analysieren, während der Analyseraum Proben unterschiedlicher Form und Größe aufnehmen kann.
Das integrale Design des 10-Positionen-Autosamplers erlaubt minimale menschliche Eingriffe und erlaubt gleichzeitig automatisches Laden und unbeaufsichtigten Betrieb.
Dieses schnelle, genaue und einfach zu bedienende Spektrometer ist mit robuster Hardware und leistungsfähiger Analysesoftware ausgestattet, um niedrige Nachweisgrenzen zu erreichen.
Die mehrkanalige Erfassungsauflösung bietet ein hervorragendes Peak-zu-Hintergrund-Verhältnis für ein verbessertes Detektoransprechen.
Zerstörungsfreie Elementaranalyse C(6)-Fm(100) von sub-ppm bis 100% Konzentrationen.
Bis zu 300W Röhrenleistung kombiniert mit einer patentierten WAG ® (Weitwinkelgeometrie)-Technologie ergeben ein leistungsstarkes Instrument, das sich jedes Labor nur wünschen kann.
Einfach zu bedienen dank des proprietären Analytix-Softwarepakets.
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