Röntgenspektrometer JB-EDX8800

XRFfür SpektralanalysenDatenerfassung

Das EDX8800E absorbiert alle Vorteile der EDX-Serie und ist zusätzlich mit einem Vakuumsystem ausgestattet, so dass es den Testumfang erweitert, die Nachweisgrenze verbessert und die Datenstabilität erhöht. Produktmerkmale: 1.Der aus Amerika importierte Silizium-Draft-Detektor mit höherer Energieauflösung verbessert die Detektion erheblich . 2.Grenze der leichten Elemente, die 100-mal höher ist als die des Si-Pin-Detektors. Der Messbereich ist breiter und kann fast die Anforderungen der Elementanalyse aller herkömmlichen Materialien erfüllen. 3.Das aus Amerika importierte Datenintegrations-Verarbeitungssystem macht die Datenerfassung schneller, die Messung stabiler mit ausgezeichneter Wiederholbarkeit und Langzeitstabilität. 4.Modernste Software, die mehrere Bildberechnungsmethoden integriert, macht die Datenmessung genauer und stabiler. 5.Die Software überwacht den Betrieb der wichtigsten Teile und gewährleistet einen sicheren Betrieb. 6.Spezialisiertes Vakuumsystem bietet bessere Vakuumleistung und hervorragende Prüfergebnisse. Messbare Elemente - Na-U Elementgehalt - 1ppm-99,99% Nachweisgrenze - 1ppm Messzeit - 60-200s (einstellbar) Stromversorgung - AC220±5V Maximaler Ausgangsstrom der Röntgenröhre - 1mA Höchstdruck - 6,7×10-2 Pa Probenkammergröße - 610*320*100(mm) (ohne Vakuum)/Φ100*h75(mm) (Vakuum) Langfristige Arbeitsstabilität (vorbehaltlich Standardprobe) - ±0,05% (hoher Gehalt) /±0,002% (Mikrogehalt) Hervorragende Wiederholbarkeit (abhängig von der Standardprobe) - 0,06% (hoher Gehalt)/±0,0025% (Mikrogehalt)