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Thermostatische Prüfkammer TemperaturAlterungNiedrigtemperatur
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Eigenschaften
- Typ
- thermostatisch
- Kontrollierter Parameter
- Temperatur
- Testart
- Alterung
- Weitere Eigenschaften
- Niedrigtemperatur, Hochtemperatur
Beschreibung
Halbleiterspeicher mit hoher und niedriger Temperatur
Unabhängige Forschung und Entwicklung von Speicherpakettest-Hardwareplattform und Softwaresystem, volle Unterstützung von NOR-Flash, NAND-Flash, eMMC, UFS Full-Speed-Alterungstest
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Semiconductor
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* Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.