Mikroskop-Objektiv / Infrarot Infra-SW series

für die industrielle Bildverarbeitungfür DetektionInspektion

Das kurzwellige Infrarot (SWIR)-Wellenlängenband bietet einzigartige Abbildungsvorteile gegenüber sichtbaren und anderen thermischen Bändern. In der industriellen Bildverarbeitung für die Inspektion von Leiterplatten, die Material-/Lebensmittelsortierung, die Solarzelleninspektion, die Qualitätsinspektion und in militärischen Anwendungen gewinnt sie unbemerkt einen wachsenden Platz. SWIR-Objektive werden dort eingesetzt, wo andere Detektoren oder Kameras für eine endliche Detailerkennung nicht empfindlich genug sind. Kurzwelliges Infrarot (SWIR)-Licht ist eine Sekunde des elektromagnetischen Spektrums, typischerweise im Wellenlängenbereich von 0.9 μm bis 2.5 μm (900 nm bis 2500 nm) und daher für das menschliche Auge unsichtbar. Allerdings interagiert SWIR-Licht mit Objekten in ähnlicher Weise wie sichtbare Wellenlängen, da Photonen von dem Objekt selbst reflektiert werden. Als Ergebnis dieser reflektierenden Natur hat SWIR-Licht Kontraste und Schatten in den Bildern, die es erzeugt, was eine notwendige Voraussetzung für eine hochauflösende Bildgebung ist. SWIR unterscheidet sich von mittelwelligem Infrarotlicht (MWIR) und langwelligem Infrarotlicht (LWIR), das von einem Objekt als thermisches IR (Wärme) emittiert wird und daher eine geringere Auflösung hat und weniger detaillierte Bilder zeigt. SWIR-Wellenlängen können nur von Sensoren wie Indium-Gallium-Arsenid (InGaAs) gesehen werden. Bilder von InGaAs-Kamerasensoren sind in Detail und Auflösung mit Bildern im sichtbaren Licht vergleichbar, jedoch nicht in Farbe. Dies ist einer der vielen Vorteile von SWIR, da Objekte leichter erkannt und individuell identifiziert werden können.