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- TZTEK Technology Co.,ltd
Messsystem / kritische Dimension MT2010VIS/IRmit KameraInfrarotautomatisch
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Eigenschaften
- Physikalische Größe
- kritische Dimension
- Technologie
- mit Kamera, Infrarot
- Funktionsmodus
- automatisch
- Gemessenes Produkt
- für Halbleiter
Beschreibung
TZTEKs Infrarotsystem nimmt weltweit eine führende Position ein. Das System kombiniert eine Hochleistungs-Infrarotkamera mit einer designoptimierten Infrarot-Optik zur Erzeugung von Bildern mit hervorragender Auflösung und Kontrast.
hauptmerkmale
-Automatische Messung
kombination von sichtbarem und infrarotem Licht im Auflicht- und Durchlichtmodus
-SECS/GEM
-Geringe Wartungskosten, stabil und zuverlässig
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Semiconductor
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* Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.