- Metrologie - Labor
- Metrologie und Materialprüfung
- Messsystem / kritische Dimension
- TZTEK Technology Co.,ltd
Messsystem / kritische Dimension IRISInfrarotmit Kamerafür Halbleiter
Zu meinen Favoriten hinzufügen
Zum Produktvergleich hinzufügen
Eigenschaften
- Physikalische Größe
- kritische Dimension
- Technologie
- mit Kamera, Infrarot
- Gemessenes Produkt
- für Halbleiter
Beschreibung
TZTEKs Infrarotsystem nimmt weltweit eine führende Position ein. Das System kombiniert eine Hochleistungs-Infrarotkamera mit einer designoptimierten Infrarot-Optik zur Erzeugung von Bildern mit hervorragender Auflösung und Kontrast.
hauptmerkmale
-Optimiertes optisches Infrarotsystem, Wellenlänge des Infrarotlichts bis zu 1500 nm
-Verfügbar für kundenspezifische Handhabungslösungen
kombination von sichtbarer und infraroter Beleuchtung im Auflicht- und Durchlichtmodus
-SECS/GEM
---
Weitere Produkte von TZTEK Technology Co.,ltd
Semiconductor
Verwandte Suchbegriffe
- Messmaschine
- Optische Messmaschine
- Automatische Messmaschine
- Hochpräzisions-Messmaschine
- Messmaschine für Industrieanwendungen
- Teile-Messmaschine
- Distanzmessmaschine
- Kontaktlose Messmaschine
- Durchmesser-Messmaschine
- Video-Messmaschine
- Dickenmesssystem
- CNC-Messmaschine
- Hochgeschwindigkeits-Messmaschine
- Konturmessmaschine
- Winkelmessmaschine
- Formmessmaschine
- Hochauflösende Messmaschine
- Rundheitsmessmaschine
- Messmaschine für Wafer
- Rundlaufmessmaschine
* Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.