Automatisches Sortiersystem

für Waferzur OberflächeninspektionHochgeschwindigkeit

Die Prüf- und Sortieranlage für Photovoltaik-Silizium-Wafer kann die Qualität von Photovoltaik-Silizium-Wafern umfassend prüfen und ist damit ein Schlüsselgerät für die Herstellung von Photovoltaik-Silizium-Wafern. Die von TZTEK entwickelte Anlage zur Erkennung und Sortierung von Photovoltaik-Silizium-Wafern, in die mehr als 10 Jahre Technologie und Erfahrung im Bereich der maschinellen Bildverarbeitung eingeflossen sind, ermöglicht eine umfassende Erkennung und Klassifizierung von Abmessungen, Linienmarkierungen, Verzug, Bruch, Oberflächenfehlern, latenten Rissen, elektrischen Eigenschaften und anderen Merkmalen von monokristallinen, polykristallinen und schwarzen Silizium-Wafern in einem Schritt und mit hoher Geschwindigkeit, indem sie einen Deep-Learning-Algorithmus integriert. Insbesondere führt es die Erkennung und Extraktion mit hoher Effizienz und einer hohen Erkennungsrate der Merkmale von Defekten in Silizium-Wafern durch und integriert vier Hauptprozesse in der Qualitätskontrolle von Silizium-Wafern, einschließlich der Zuführung, der vollständigen Erkennung, der Datenanalyse und des Ausblendens und Sortierens, in ein automatisches intelligentes System, um Ihre Anforderungen an die Sortierung und Erkennung von Silizium-Wafern und ähnlichen Produkten im Bereich der neuen Energien zu erfüllen. "0"-Beschädigung Berührungslos mit "0"-Beschädigung Daten-Unterstützung automatisches Sammeln und Hochladen von Inspektions- und Sortierdaten in Echtzeit Niedrige Kosten Weniger Arbeitsaufwand, geringere Gesamtkosten für Sortierung und Prüfung