Interferometer mit Wellenfrontdivision WaveMaster® COMPACT

Der WaveMaster® Compact wird in der Qualitätskontrolle sphärischer und asphärischer Optiken eingesetzt und ist ebenfalls für einfache Entwicklungsaufgaben geeignet. Es ist ein schnelles und präzises Instrument, dass nach dem Shack-Hartmann-Prinzip arbeitet. Die Handhabung ist einfach und auf hohen Probendurchsatz optimiert. Hauptmerkmale Schnell und einfach auf unterschiedliche Prüflingstypen anpassbar, austauschbare Vergrößerungsoptik in kinematischer Halterung Hohe Messgeschwindigkeit für hohen Probendurchsatz Prüflingshalter für genaue Ausrichtungen Bei Wellenfront-Messungen von Prüflingsserien ist nur ein minimales Nachausrichten der Prüflinge erforderlich Hohe Messgenauigkeit des Shack-Hartmann-Sensors Automatische Fokussierung der Lichtquelle Automatische Positionierung des Wellenfront-Sensors und der Abbildungsoptik in der Austrittspupille Echtzeit-Abgleich zwischen Wellenfrontdaten und Musterlinsen oder Designwerten Punktlichtquelle mit unterschiedlichen numerischen Aperturen erhältlich (bis 0,95) Vibrationsunempfindlicher Aufbau Umfangreiche Softwarefunktionen für die Messung und Analyse Anwendungen Finit-Messung mit Shack-Hartmann-Sensor in Transmission Finit-Messung mit Shack-Hartmann-Sensor in Transmission Der WaveMaster® Compact ermittelt mit dem eingebauten Shack-Hartmann-Sensor folgende Parameter: Messung der Wellenfront (PV, RMS) Bestimmung der Zernike Koeffizienten Messung der Punktbildfunktion (PSF) Messung der Modulationsübertragungsfunktion (MTF) Messung des Strehl- Verhältnisses Keilwinkel