Optisches Mikroskop 1100TN

Mess3DTisch

Das Mikroskop der Wanderungs-vorbildliche elektrostatischen Kraft-1100TN (EFM) ermöglicht Spannungsverteilungsmaßen mit einer sehr hohen Ortsauflösung, die als 10μm besser ist, das weit über der Fähigkeit von typischen elektrostatischen Voltmetern ist. Das EFM der Wanderung kann Spannungsverteilung über einer viel größeren Fläche verglichen mit einem Überprüfungssondenmikroskop auch messen, wenn es unter Witterung funktioniert wird. Das EFM der Wanderung setzt eine Feedbackspannung zum Detektor ein, der der gemessenen Spannung gleich ist, die folglich den Funkenüberschlag zwischen dem Detektor und der Oberfläche in Versuch verhindert. Schlüsselspezifikationen Spannungsbereich: ±1 KV Spannungs-Empfindlichkeit: Genauigkeit: Besser als 0,5% von komplettem Besser als 100 Millivolt Zuwachsschritt: 1 µm, minimal (Detektor) Detektor-Spitze: µm 5 µm X 5 Maß-Bereich: 5 Millimeter X 5 Millimeter Typische Anwendungen umfassen Maß von antistatischen Taschen, Sioblate ElektrofotografieMaterialprüfung Foto-voltaische Materialbewertung MEMS-Prüfung Eigenschaften und Nutzen Kann in Atmosphärenzuständen verwendet werden Ortsauflösung ist besser als μm 10 Drei Maßmodi: - Statisch - Linie Profil - Diagramm 3D