Kompakte Antivibrationsplattform SEM-Base® VI

SEM-Base® VI ist die neuste Generation der STACIS aktiven piezoelektrischen Schwingungsdämpfung. SEM-Base VI wurde für die Aufnahme sämtlicher gängigen Rasterelektronenmikroskope (REMs) sowie vieler Focused-Ion-Beam- (FIB) und kleiner Dual-Beam-Instrumente entworfen. SEM-Base VI bietet verbesserte Schwingungsisolationsleistung, eine schnellere, robustere Steuerung sowie eine verbesserte grafische Benutzeroberfläche (GUI). SEM-Base VI wird vielen weiteren Laboren und Einrichtungen ermöglichen, einen Grad von Bodenschwingungen zu erreichen, der den Anforderungen der Instrumentenhersteller entspricht. SEM-Base VI nutzt eine einzigartige „serielle Architektur“, in der die Schwingungssensoren nur die Bodenschwingung messen und keine Eigenschwingungen der Traglast. So wird sichergestellt, dass, anders als bei anderen Konstruktionen, Resonanzen der Traglast nicht automatisch die Schwingungsisolation einschränken oder zu Instabilität führen. Für höchste Empfindlichkeit im schwer messbaren Sub-Hz-Bereich werden niederfrequente Trägheits-Geschwindigkeitssensoren als Schwingungssensoren eingesetzt. In Kombination mit unserer einzigartigen Piezo-Aktoren-Technologie erreicht die SEM-Base VI extrem hohe Werte bei der Schwingungsdämpfung, selbst auf bereits ruhigen Böden. SEM-Base VI bietet im Durchschnitt 6 dB mehr Schwingungsisolation als vorherige Modelle. Zusätzlich verfügt TMCs Steuerung der nächsten Generation, die DC-2020, über einen neuen Dual-Core-Prozessor und bietet Instrumentennutzern und Forschern eine äußert simple und benutzerfreundliche grafische Oberfläche für eine schnelle Systemprüfung und einen problemlosen Betrieb.