Laserstrahl-Analysegerät BP209-VIS

Merkmale Hochpräzise Analyse der Strahlqualität und der räumlichen Leistungsverteilung Einzelner Stand-Alone Messkopf Zur Charakterisierung von kontinuierlichen oder gepulsten Laserstrahlen mit einer Wiederholrate >10 Hz Abtastgeschwindigkeiten von 2 bis 20 Hz Zusätzlicher Messerkantenmodus Leistungsmesser integriert (nicht kalibriert) Dynamikbereich von 78 dB Rauscharmer Verstärker 2D- oder Pseudo-3D-Diagramme High-Speed USB 2.0 Schnittstelle zum PC Die Dual Scanning Slit Beam Profiler von Thorlabs sind ideal für die Analyse von Laserstrahlprofilen, die eine nahezu gaußsche Strahlform aufweisen. Für nicht-gaußsche Strahlformen empfehlen wir unsere Kamera-Strahlprofiler. Diese Abtastschlitzprofiler ermöglichen schnelle, gleichzeitige Messungen des X- und Y-Profils mit einem hohen Dynamikbereich von 78 dB und einer variablen Abtastgeschwindigkeit von 2 bis 20 Hz ohne Dämpfungsglieder im Strahlengang. Es stehen zwei Modelle zur Verfügung, eines für den Einsatz mit Licht im Bereich von 200 - 1100 nm und ein zweites für den Einsatz mit Licht im Bereich von 900 - 1700 nm. Beide Versionen sind mit einer physikalischen Öffnung von 9 mm Durchmesser ausgestattet. Dieses Design bietet zwei Schnittbreiten, rauscharme Elektronik und den zusätzlichen Messerkantenmodus, der es ermöglicht, einen erweiterten Bereich von Strahldurchmessern (2,5 µm bis 9 mm) mit einem einzigen Gerät zu analysieren. Der Strahldurchmesser wird nach der Norm ISO11146 gemessen. Es kann mit einer Reihe von branchenüblichen Clip-Levels angezeigt werden, wie z.B. 1/e2 (13,5%), 50% oder einer vom Benutzer festgelegten beliebigen Clip-Level. Details zur Funktionalität und Verwendung der verschiedenen Schnittbreiten finden Sie auf der Registerkarte Bedienung.