Fokussiertes Ionen Strahl System

Breites Ionenstrahlfräsen zum Polieren von Oberflächen und Querschnitten von Proben für die REM-Abbildung und Charakterisierung Hochwertige Beobachtung und Charakterisierung von Materialien erfordern oft eine artefaktfreie Oberfläche, die mit herkömmlichen Polierverfahren wie Schleifen oder mechanischem Polieren nur schwer zu erreichen ist. Das Thermo Scientific CleanMill Broad Ion Beam System ist die komplette Ionenstrahl-Polierlösung für REM-Anwendungen in der Materialwissenschaft und ermöglicht eine optimale Abbildung und Analyse von Materialien, bei denen eine makellose Oberfläche erforderlich ist, einschließlich strahl- und luftempfindlicher Materialien. Das CleanMill System ist vollständig kompatibel mit dem Thermo Scientific CleanConnect Probentransfersystem, das einen schnellen Probentransfer zwischen den Geräten ermöglicht und die Probenhandhabung minimiert. Hochenergetische Ionenquelle Die Ultrahochenergie-Ionenquelle verfügt über eine maximale Beschleunigungsspannung von 16 kV zum schnellen Fräsen und Polieren von Probenoberflächen. Ultrafeine Oberflächenpolitur Das CleanMill System kann mit einer optionalen Niederenergie-Ionenkanone zum abschließenden Polieren von Probenoberflächen konfiguriert werden. Breite Beschleunigungsspannung Das System liefert eine Ionenenergie von 2 kV bis 16 kV und verfügt über eine spezielle Optik für das Ultra-Niederspannungspolieren von 100 V bis 2 kV. Kompatibilität mit dem CleanConnect-System Sicherer Probentransfer vom CleanMill System in die Mikroskopkammer mit dem Thermo Scientific IGST (Inertgas-Probentransfer) Workflow zur Beobachtung von Materialien in ihrem nativen Zustand. Überwachung in Echtzeit Mit dem integrierten Touchscreen und der hochauflösenden Kamera behalten Sie den Überblick über den breiten Ionenstrahl-Fräsprozess.