Röntgen-Photoelektronen-Spektrometer Nexsa G2 XPS

Datenerfassungautomatisiert

Röntgen-Photoelektronenspektrometer mit automatischer Oberflächenanalyse und Multitechnik-Funktionen. Röntgen-Photoelektronenspektroskopie Das Thermo Scientific Nexsa G2 Röntgenphotoelektronenspektrometersystem (XPS) bietet eine vollautomatische Oberflächenanalyse mit hohem Durchsatz und liefert die Daten, um Forschung und Entwicklung voranzutreiben oder Produktionsprobleme zu lösen. Die Integration von XPS mit Ionenstreuungsspektroskopie (ISS), UV-Photoelektronenspektroskopie (UPS), Reflexionselektronen-Energieverlustspektroskopie (REELS) und Raman-Spektroskopie ermöglicht Ihnen die Durchführung echter korrelativer Analysen. Das System enthält jetzt Optionen für die Probenheizung und die Probenvorspannung, um die Bandbreite der möglichen Experimente zu erweitern. Das Nexsa G2 Oberflächenanalysesystem erschließt das Potenzial für Fortschritte in der Materialwissenschaft, Mikroelektronik, Nanotechnologieentwicklung und vielen anderen Anwendungen. Leistungsstarke Röntgenquelle Ein neuer Röntgenmonochromator mit geringer Leistung ermöglicht die Auswahl des Analysebereichs von 10 µm bis 400 µm in 5 µm-Schritten, wodurch sichergestellt wird, dass Daten von dem Merkmal erfasst werden, das von Interesse ist, während das Signal maximiert wird. Optimierte Elektronenoptik Die hocheffiziente Elektronenlinse, der halbkugelförmige Analysator und der Detektor ermöglichen eine hervorragende Nachweisbarkeit und eine schnelle Datenerfassung. Betrachtung der Probe Mit dem patentierten optischen Betrachtungssystem des Nexsa XPS-Systems und der XPS-SnapMap, die Ihnen hilft, interessante Bereiche mit einem vollständig fokussierten XPS-Bild schnell zu lokalisieren, können Sie die Merkmale der Probe in den Fokus rücken.