Röntgenphotoelektronenspektrometer für die Hochleistungs-Oberflächenanalyse.
K-Alpha Röntgen-Photoelektronenspektrometer
Das Thermo Scientific K-Alpha Röntgenphotoelektronenspektrometer (XPS) System bietet einen neuen Ansatz für die Oberflächenanalyse. Das K-Alpha XPS-System ist darauf ausgerichtet, mit einem optimierten Arbeitsablauf qualitativ hochwertige Ergebnisse zu liefern und macht die XPS-Bedienung einfach und intuitiv, ohne Abstriche bei der Leistung oder den Möglichkeiten.
Modernste Leistung, reduzierte Betriebskosten, erhöhte Benutzerfreundlichkeit und ein hoher Probendurchsatz machen das K-Alpha XPS-System ideal für eine Mehrbenutzerumgebung. Das K-Alpha XPS-System ermöglicht mehr Forschern auf der ganzen Welt den Zugang zur Oberflächenanalyse.
Merkmale des K-Alpha Röntgen-Photoelektronen-Spektrometers
Leistungsstarke Röntgenquelle
Der Röntgenmonochromator ermöglicht die Auswahl des Analysebereichs von 50 µm bis 400 µm in 5 µm-Schritten und passt ihn an das gewünschte Merkmal an, um das Signal zu maximieren.
Optimierte Elektronenoptik
Die hocheffiziente Elektronenlinse, der halbkugelförmige Analysator und der Detektor ermöglichen eine hervorragende Nachweisbarkeit und eine schnelle Datenerfassung.
Betrachtung der Probe
Mit dem patentierten optischen Betrachtungssystem des K-Alpha XPS-Systems und der XPS-SnapMap, die Ihnen hilft, interessante Bereiche schnell zu lokalisieren, können Sie die Merkmale der Probe in den Mittelpunkt stellen.
Analyse von Isolatoren
Die patentierte Zweistrahl-Flutlichtquelle koppelt Niedrigenergie-Ionenstrahlen mit Elektronen sehr niedriger Energie (weniger als 1 eV), um eine Aufladung der Probe während der Analyse zu verhindern. Dadurch entfällt in den meisten Fällen die Notwendigkeit einer Ladungsreferenzierung.
Profilerstellung in der Tiefe
Mit der Ionenquelle EX06 gehen Sie über die Oberfläche hinaus. Die automatische Optimierung der Quelle und des Gashandlings gewährleisten eine hervorragende Leistung und experimentelle Reproduzierbarkeit.
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