TEM-Mikroskop Spectra 300

für Materialforschungfür Halbleiterhochauflösend

Hochauflösende TEM- und STEM-Mikroskope für alle materialwissenschaftlichen und Halbleiteranwendungen. Damit Wissenschaftler ihr Verständnis komplexer Proben verbessern und innovative Materialien entwickeln können, müssen sie Zugang zu robusten, präzisen Instrumenten haben, die in der Lage sind, Form und Funktion zu korrelieren sowie Raum, Zeit und Frequenz aufzulösen. Thermo Fisher Scientific stellt das Thermo Scientific Spectra 300 (S)TEM vor - das höchstauflösende, aberrationskorrigierte Rastertransmissionselektronenmikroskop für alle materialwissenschaftlichen Anwendungen. Vorteile des Spectra 300-Transmissionselektronenmikroskops Alle Spectra 300 (S)TEMs werden auf neuen Plattformen ausgeliefert, die durch passive und (optional) aktive Schwingungsisolierung ein noch nie dagewesenes Maß an mechanischer Stabilität und höchster Bildqualität bieten. Das System ist in einem völlig neu gestalteten Gehäuse untergebracht, das über ein eingebautes Bildschirmdisplay verfügt, das ein bequemes Laden und Entnehmen der Proben ermöglicht. Zum ersten Mal kann eine vollständige Modularität und Aufrüstbarkeit zwischen unkorrigierten und einfach korrigierten Konfigurationen mit variablen Höhen angeboten werden, was maximale Flexibilität für unterschiedliche Raumkonfigurationen ermöglicht. Das Spectra 300 (S)TEM kann optional entweder mit einer hochenergetisch auflösenden Extremfeld-Emissionskanone (X-FEG)/Mono oder einer ultrahochenergetisch auflösenden X-FEG/UltiMono ausgestattet werden. Die Monochromatoren beider Quellen werden automatisch angeregt und mit einem einzigen Mausklick abgestimmt, um die höchstmögliche Energieauflösung für jede Konfiguration zu erreichen, indem OptiMono bzw. OptiMono+ verwendet wird (siehe Video unten).