Transmissionselektronmikroskop Spectra 200

für Qualitätskontrollefür Materialforschungfür Halbleiter

TEM- und STEM-Mikroskop mit hohem Durchsatz für alle materialwissenschaftlichen Anwendungen. Damit Wissenschaftler ihr Verständnis komplexer Proben verbessern und innovative Materialien entwickeln können, müssen sie Zugang zu robusten, präzisen Instrumenten haben, die in der Lage sind, Form und Funktion zu korrelieren sowie Raum, Zeit und Frequenz aufzulösen. Thermo Fisher Scientific stellt das Thermo Scientific Spectra 200 (S)TEM vor, ein durchsatzstarkes, aberrationskorrigiertes (Raster-)Transmissionselektronenmikroskop für alle materialwissenschaftlichen Anwendungen. Vorteile des Spectra 200-Rastertransmissionselektronenmikroskops Alle Spectra 200 (S)TEMs werden auf neuen Plattformen ausgeliefert, die durch passive und (optional) aktive Schwingungsisolierung ein noch nie dagewesenes Maß an mechanischer Stabilität und höchster Abbildungsqualität bieten. Das System ist in einem völlig neu gestalteten Gehäuse untergebracht, das über ein eingebautes Bildschirmdisplay verfügt, das das Laden und Entnehmen der Proben erleichtert. Zum ersten Mal kann eine vollständige Modularität und Aufrüstbarkeit zwischen unkorrigierten und einfach korrigierten Konfigurationen mit variablen Höhen angeboten werden, was maximale Flexibilität für unterschiedliche Raumkonfigurationen ermöglicht. Das Spectra 200 (S)TEM kann mit einer neuen Kaltfeld-Emissionskanone (X-CFEG) betrieben werden. Die X-CFEG hat eine extrem hohe Helligkeit (>>1,0 x 108 A/m2/Sr/V*), eine niedrige Energieverteilung und kann von 30 - 200 kV betrieben werden. Dies ermöglicht eine hochauflösende STEM-Bildgebung mit hohen Sondenströmen für eine STEM-Analyse mit hohem Durchsatz und schneller Erfassung. Mit der leistungsstarken Kombination aus X-CFEG und S-CORR-Sondenaberrationskorrektor kann routinemäßig eine Sub-Angstrom-STEM-Abbildung mit über 1000 pA Sondenstrom erzielt werden.