Rasterelektronenmikroskop mit fokussierter Ionensonde Scios 2

für Analysefür ForschungszweckeMesstechnik

Rasterelektronenmikroskop mit fokussiertem Ionenstrahl für ultrahochauflösende, hochwertige Probenpräparation und 3D-Charakterisierung. Das Thermo Scientific Scios 2 DualBeam ist ein ultrahochauflösendes analytisches Rasterelektronenmikroskop mit fokussiertem Ionenstrahl (FIB-SEM), das eine hervorragende Probenpräparation und 3D-Charakterisierung für ein breites Spektrum von Proben, einschließlich magnetischer und nichtleitender Materialien, bietet. Mit seinen innovativen Funktionen zur Steigerung des Durchsatzes, der Präzision und der Benutzerfreundlichkeit ist das Scios 2 DualBeam eine ideale Lösung für die Anforderungen von Wissenschaftlern und Ingenieuren in der Spitzenforschung und -analyse in akademischen, staatlichen und industriellen Forschungsumgebungen. Charakterisierung des Untergrunds Um die Struktur und die Eigenschaften einer Probe besser zu verstehen, ist häufig eine unterirdische oder dreidimensionale Charakterisierung erforderlich. Das Scios 2 DualBeam mit der optionalen Thermo Scientific Auto Slice & View 4 (AS&V4) Software ermöglicht die hochwertige, vollautomatische Erfassung multimodaler 3D-Datensätze, einschließlich der Rückstreuelektronenbildgebung (BSE) für maximalen Materialkontrast, der energiedispersiven Spektroskopie (EDS) für Informationen über die Zusammensetzung und der Elektronenrückstreudifendiffraktion (EBSD) für mikrostrukturelle und kristallografische Informationen. In Kombination mit der Thermo Scientific Avizo Software bietet das Scios 2 DualBeam eine einzigartige Workflow-Lösung für hochauflösende, fortschrittliche 3D-Charakterisierung und Analyse im Nanometerbereich. Bildgebung mit rückgestreuten Elektronen und Sekundärelektronen Die innovative NICol-Elektronensäule bildet die Grundlage für die hochauflösenden Abbildungs- und Detektionsmöglichkeiten des Systems.