Rasterelektronenmikroskop mit fokussierter Ionensonde Helios 5 DualBeam

für Materialforschung3Dhochauflösend

Probenvorbereitung für TEM- und STEM-Bildgebung oder Atomsondentomographie. Einfache Bedienung mit fortschrittlicher Automatisierung. Geeignet für hochwertige 3D-Charakterisierung des Untergrunds. FIB-Probenvorbereitung Das neue Thermo Scientific Helios 5 DualBeam baut auf den leistungsstarken Bildgebungs- und Analysefunktionen der branchenführenden Helios DualBeam-Familie auf. Es wurde sorgfältig entwickelt, um die Anforderungen von Forschern und Ingenieuren in der Materialwissenschaft für eine Vielzahl von Anwendungsfällen der fokussierten Ionenstrahl-Rasterelektronenmikroskopie (FIB-SEM) zu erfüllen - selbst bei den schwierigsten Proben. Der Helios 5 DualBeam setzt neue Maßstäbe in der hochauflösenden Bildgebung mit hohem Materialkontrast, der schnellen, einfachen und präzisen Probenpräparation für (S)TEM-Imaging und Atomsonden-Tomographie (APT) sowie der hochwertigen Untergrund- und 3D-Charakterisierung. Aufbauend auf den bewährten Fähigkeiten der Helios DualBeam-Familie wurden zusätzliche Verbesserungen am neuen Helios 5 DualBeam entwickelt, um sicherzustellen, dass das System für eine Vielzahl von manuellen oder automatisierten Arbeitsabläufen optimiert ist. Diese Verbesserungen umfassen: -Größere Benutzerfreundlichkeit: Der Helios 5 DualBeam ist der am besten zugängliche DualBeam für Benutzer aller Erfahrungsstufen. Die Bedienerschulung kann von Monaten auf Tage reduziert werden, und das Systemdesign hilft allen Bedienern, konsistente, wiederholbare Ergebnisse bei einer Vielzahl von fortschrittlichen Anwendungen zu erzielen. -Steigerte Produktivität: Erweiterte Automatisierungsfunktionen, erhöhte Robustheit und Stabilitätsverbesserungen des Helios 5 DualBeam und der Thermo Scientific AutoTEM 5 Software können den Durchsatz bei der Probenvorbereitung erheblich steigern, da sie einen unbeaufsichtigten Betrieb und sogar einen Betrieb über Nacht ermöglichen.