SEM-Mikroskop Phenom ParticleX TC

für AnalyseMehrzweckDesktop

Analyse der Bauteilsauberkeit mit einem Mehrzweck-Desktop-SEM. Desktop-SEM für die Analyse der Bauteilsauberkeit Das Thermo Scientific Phenom ParticleX TC Desktop SEM ist ein vielseitig einsetzbares Desktop-SEM, das technische Sauberkeit auf der Mikroskala ermöglicht. Charakterisierung von Materialien Das Phenom ParticleX Desktop SEM ist eine vielseitige Lösung für hochwertige Analysen im eigenen Haus. Es ermöglicht die schnelle Charakterisierung, Verifizierung und Klassifizierung von Materialien und unterstützt Ihre Produktion mit schnellen, genauen und zuverlässigen Daten. Das System ist einfach zu bedienen und schnell zu erlernen und macht die Partikel- und Materialanalyse für eine größere Gruppe von Anwendern zugänglich. Hauptmerkmale Technische Sauberkeit Angesichts der wachsenden Nachfrage nach Analysen kleinerer Partikel, die über die Möglichkeiten der Lichtmikroskopie in der (Automobil-)Industrie hinausgehen, ermöglicht das Phenom ParticleX TC (Technical Cleanliness) Desktop SEM die automatisierte Rasterelektronenmikroskopie mit energiedispersiver Röntgenspektroskopie (EDS). Dies ist ein großer Vorteil gegenüber der Lichtmikroskopie, da es eine chemische Klassifizierung der Partikel ermöglicht und somit einen großen Einblick in Ihre Produktionsprozesse und/oder -umgebungen bietet. Standardberichte nach VDA 19 / ISO 16232 oder ISO 4406/4407 sind verfügbar. Sekundärelektronendetektor Ein Sekundärelektronendetektor (SED) ist optional für das Phenom ParticleX TC (Technische Sauberkeit) Desktop SEM erhältlich. Der SED sammelt niederenergetische Elektronen von der obersten Oberflächenschicht der Probe. Es ist daher die perfekte Wahl, um detaillierte Informationen über die Probenoberfläche zu erhalten. Das SED kann bei Anwendungen, bei denen Topographie und Morphologie wichtig sind, von großem Nutzen sein.