Mikroskop für Batterie Phenom ParticleX

SEMfür Analysefür Qualitätskontrolle

Desktop-Rasterelektronenmikroskop für die Batterieproduktion und -forschung. Analyse fortschrittlicher Batteriematerialien Phenom Desktop SEM für die Analyse von Batteriematerialien In der Batterieproduktion und -forschung wird die Qualität der Materialien immer wichtiger. Kleine Verunreinigungen im NCM-Pulver zum Beispiel können im Endprodukt verheerende Folgen haben. Um diese Verunreinigungen effektiv aufzuspüren, ist eine hochauflösende REM-Bildgebung mit EDS-Analyse für die Chemie erforderlich. Bei vollständiger Automatisierung ist diese Kombination ein leistungsfähiges Werkzeug für die Qualitätsprüfung von Pulvern. Hauptmerkmale des Phenom ParticleX Battery Desktop SEM Leitfähigkeits-Klassifizierungen Jede Partikelklasse kann mit einem Leitwert der Partikel gekennzeichnet werden, so dass Sie nach dem Leitwert der Partikel sortieren können. Auf diese Weise können Sie die Auswirkungen von Verunreinigungen viel genauer beurteilen, da eine kleine organische Verunreinigung nicht so schwerwiegend ist wie eine metallische leitfähige Verunreinigung. Ternäres Diagramm Um die Gesamtchemie der Partikelpopulation zu betrachten, kann ein ternäres Diagramm erstellt werden, in dem alle Partikel dargestellt sind. Mit Ni, Co und Mn auf jeder Achse lassen sich die Ausläufer und allgemeinen Trends sofort erkennen.