- Metrologie - Labor
- Laborbedarf
- Labormikroskop
- Tescan GmbH
FIB/SEM-Mikroskop AMBER cryoLabor
Zu meinen Favoriten hinzufügen
Zum Produktvergleich hinzufügen
Eigenschaften
- Typ
- FIB/SEM
- Anwendungsbereich
- Labor
Beschreibung
Eine alternative Lösung zur Vorbereitung von Kryolamellen für Ihr TEM
- Flexible Kryo-FIB-SEM-Arbeitsstation für Ihre anspruchsvollsten Anwendungen unter kryogenen Bedingungen
- Optimierter Kryo-TEM-Lamellen-Workflow für artefaktfreie planare Gitterlamellen aus gefrorenen Proben
- Kompatible Lösung mit allen auf dem Markt erhältlichen Kryo-TEM
- Hervorragende SEM-Bildgebungsleistung bei sehr niedrigen kV
- Cryo-Benutzerkonto mit definiertem DrawBeam™ Projekt, das für Ihren Cryo-Betrieb bestimmt ist
- Einfache Navigation einschließlich erweitertem Sichtfeld, zwei Kameras und aktivem 3D-Kollisionsmodell
- Benutzerfreundliche, vollständig anpassbare, anwendungsorientierte und modulare Benutzeroberfläche
- Attraktive optionale Pakete für verschiedene Anwendungen
---
Kataloge
Für dieses Produkt ist kein Katalog verfügbar.
Alle Kataloge von Tescan GmbH anzeigen
Verwandte Suchbegriffe
- Mikroskop
- Labormikroskop
- Inspektionsmikroskop
- Desktop-Mikroskop
- Messmikroskop
- Mikroskop für Analyse
- Hochauflösendes Mikroskop
- Industrie-Mikroskop
- Automatisches Mikroskop
- Mikroskop für Materialforschung
- Mikroskop für Qualitätskontrolle
- Mikroskop für Forschungszwecke
- Modulares Mikroskop
- Konfokalmikroskop
- Echtzeit-Mikroskop
- Hochpräzisionsmikroskop
- SEM-Mikroskop
- Mikroskop mit hohem Kontrast
- Sekundärelektronenmikroskop
- Mikroskop zur Materialuntersuchuing
* Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.