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FIB/SEM-Mikroskop SOLARIS
für ForschungszweckeHochpräzisionultrahochauflösend

FIB/SEM-Mikroskop
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Eigenschaften

Typ
FIB/SEM
Anwendungsbereich
für Forschungszwecke
Weitere Eigenschaften
Hochpräzision, ultrahochauflösend

Beschreibung

Fortschrittliche Nanofabrikationswerkbank für Ihr Forschungslabor - Ausgezeichnete SEM-Bildgebung mit ultrahoher Auflösung - Beste Auflösung Ga FIB-Spalte - Hochpräziser Nanomusterungsmotor für Elektronen- und Ionenstrahlen - Mehrgas-Injektionssystem mit einer Vielzahl von Vorläufergasen - Benutzerfreundliche, modulare Software-Benutzeroberfläche

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* Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.