FIB/SEM-Mikroskop AMBERfür Analysefür MaterialforschungHochpräzision
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Eigenschaften
- Typ
- FIB/SEM
- Anwendungsbereich
- für Analyse, für Materialforschung
- Weitere Eigenschaften
- Hochpräzision, ultrahochauflösend
Beschreibung
Vielseitige nanoanalytische FIB-SEM zur Erweiterung Ihrer Materialforschungskapazitäten
- Hochpräzise Mikroprobenpräparation
- Ultrahochauflösende feldfreie SEM-Bildgebung und Nanoanalyse
- Erweitertes Sichtfeld und einfache Navigation
- Prozessautomatisierung an mehreren Standorten
- Multimodale FIB-SEM-Tomographie
- Benutzerfreundliche, modulare Software-Benutzeroberfläche
- Attraktive optionale Pakete für verschiedene Anwendungen
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Kataloge
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* Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.