FIB/SEM-Mikroskop AMBER Xfür Analysein-lens SEmodulares
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Eigenschaften
- Typ
- FIB/SEM
- Anwendungsbereich
- für Analyse
- Detektortyp
- in-lens SE
- Weitere Eigenschaften
- modulares, ultrahochauflösend
Beschreibung
Eine einzigartige Kombination von Plasma-FIB und feldfreiem UHR FE-SEM für die Multiskalen-Materialcharakterisierung
- Hoher Durchsatz, großflächige FIB-Verarbeitung bis zu 1 mm
- Ga-freie Mikroprobenpräparation
- Ultrahochauflösende, feldfreie FEG-SEM-Bildgebung und -Analyse
- In-Linse-SE und BSE-Nachweis
- Auflösungsoptimierung für multimodale FIB-SEM-Tomographie mit hohem Durchsatz
- Überlegenes Sichtfeld für einfache Navigation
- Essence™ Benutzerfreundliche, modulare grafische Benutzeroberfläche
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Kataloge
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* Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.