SEM-Mikroskop CLARA

zur MaterialuntersuchuingTischautomatisiert

Feldfreies analytisches UHR-SEM zur Materialcharakterisierung im Nanobereich - Kompromisslose Charakterisierung aller Arten von Materialien auf der Nanoskala - Ideal für die Charakterisierung von Materialien bei niedrigen Strahlenergien für maximale Oberflächentopographie - Ausgezeichnete Abbildung strahlungsempfindlicher und nicht leitender Proben - Vollautomatischer Aufbau des Elektronenstrahls - optimale Abbildungsbedingungen werden durch den In-Flight Beam gewährleistet Tracing™ - Intuitive Live-SEM-Navigation auf der Probe bei bis zu 2-facher Vergrößerung, ohne dass eine zusätzliche optische Navigationskamera erforderlich ist, dank des Wide Field Optics™ Designs - Einzigartiges Design des In-Beam-Multidetektors ermöglicht winkel- und energieselektiven BSE-Nachweis - Intuitive, modulare Software-Plattform, die für eine mühelose Bedienung unabhängig vom Kenntnisstand der Benutzer entwickelt wurde