Labor-Testsystem S530

für HalbleiterkompaktHochspannung

BEAVERTON, Ore., Sept. 16, 2021 /PRNewswire/ -- Tektronix, Inc., ein weltweit führender Anbieter von Test- und Messlösungen, hat heute die Software KTE V7.1 für das parametrische Testsystem der Serie S530 von Keithley veröffentlicht, um die Herstellung von Halbleiterchips genau dann zu beschleunigen, wenn der Weltmarkt sie am meisten braucht. Zu den neuen Optionen, die mit KTE V7.1 zum ersten Mal verfügbar sind, gehören eine neue Paralleltestfunktion und eine einzigartige Hochspannungs-Kapazitäts-Testoption für neue Leistungs- und Wide-Bandgap-Anwendungen. KTE V7.1 verbessert die Testzeiten um mehr als 10 Prozent im Vergleich zu KTE V5.8, was bedeutet, dass Ingenieure ihre Ausfallzeiten reduzieren und Chips schneller herstellen können. Das Aufkommen von 5G und das Wachstum von IoT haben die weltweite Nachfrage nach Halbleitern angeheizt. Globale Engpässe erfordern nicht nur eine verstärkte Produktion, sondern auch eine schnellere Fähigkeit, neue Chips zu testen, die gerade entwickelt werden. Die Veröffentlichung dieses neuen Testsystems von Tektronix kann dazu beitragen, die Herstellung zu beschleunigen, indem die Testzeit verkürzt und somit die Lieferung neuer Chips auf den Markt beschleunigt wird. "Die heutigen aufkommenden Analog-, Wide-Bandgap- (SiC und GaN) und Leistungshalbleitertechnologien erfordern parametrische Tests, die die Messleistung maximieren, einen breiten Produktmix abdecken und die Kosten minimieren", sagt Peter Griffiths, General Manager, Systems & Software bei Tektronix. "Unsere Kunden, darunter die größten Chiphersteller der Welt, werden die Verbesserungen von KTE V7.1 zu schätzen wissen, die es den Ingenieuren ermöglichen, Innovationen in noch nie dagewesenem Tempo zu entwickeln, um den Anforderungen der sich verändernden Märkte gerecht zu werden."