Der Kompaktmessplatz ermöglicht eine indirekte Messung der LVK über ein zusätzliches optisches Abbildungssystem zur Verkürzung der photometrischen Grenzentfernung durch die Abbildung der Lichtverteilung auf eine Messwand in der Fokusebene. Alle parallel ausgestrahlten Lichtstrahlen werden auf einen Punkt abgebildet. Das gilt für alle parallelen Strahlen mit demselben Winkel. Deshalb kann auf der Messwand jedem Messpunkt ein Blickwinkel bzw. Abstrahlwinkel der Lichtquelle zugeordnet werden.
Wenn die Messwand mit ihrer örtlichen Auflösung und die geometrischen und photometrischen Beziehungen zwischen der Lichtquelle (in sphärischen Koordinaten) und der Messwand (in Kamerakoordinaten) bekannt sind, dann kann die Lichtstärkeverteilung aus dem Leuchtdichtebild heraus berechnet werden.
Um der Streulichtproblematik zu begegnen, werden diffuse und reflexionsarme Blenden und Oberflächeneigenschaften verwendet.
Wenn beispielsweise die photometrische Grenzentfernung für einen automobilen Frontscheinwerfer 10 m beträgt, dann ist es mit dem KMP möglich die Messentfernung auf unter einen Meter zu reduzieren. In Abhängigkeit von der zu messenden Lichtquelle, dem optischen Abbildungssystem und dem zu erfassenden Winkelbereich kann die Messentfernung auch noch weiter verkleinert werden. Der daraus resultierende Platzbedarf ist sehr kompakt.